中华人民共和国国家标准
GB/T21194-2007
Generic reliability assurance requirements for optoelectronic devices used intelemunications equipment
中国国家标准化管理委员会 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布
目次
1范围 前言2规范性引用文件3缩略语、术语和定义3.1缩略语3.2术语和定义. 4可靠性评定的一般要求4.1光电子器件评定的目的4.2评定的抽样方案5试验程序和光电子器件的评定5.2光电特性参数的测试 5.1试验的一般要求5.3物理特性测试项目5.4机械完整性试验项目5.5加速老化试验5.6光电子器件的评定方法
前言
件评定的抽样方案、光电特性参数测试、物理特性测试、机械完整性测试和加速老化等技术方面保持一 本标准参照TelcordiaGR-468-CORE：2004《通信设备用光电子器件可靠性一般要求》，在光电子器致，在其他方面和文本结构上不同.
本标准由中华人民共和国信息产业部提出.
本标准由中国通信标准化协会归口.
本标准起草单位：武汉邮电科学研究院.
本标准起草人：赵先明、刘坚、罗飚、郑林
通信设备用的光电子器件的 可靠性通用要求
1范围
本标准规定了通信设备用光电子器件的术语、定义、可靠性评定的一般要求、试验程序和光电子器件的评定方法.
本标准适用于通信设备用光电子器件，包括激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及其它们的组件.其他类似器件可参照执行.
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款.凡是注日期的引用文件，其随后的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准.然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本.凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准.
GB8898一2001音频、视频及类似电子设备安全要求 BellcoreTR-NWT-000870通信设备生产中静电放电的控制MIL-STD-202G电子器件试验方法MIL-STD-883F微电子器件试验方法TelcordiaGR-63-CORE网络设备构建系统要求：物理保护TelcordiaGR-78-CORE通信产品和设备的物理设计和制造的一般要求 TelcordiaGR-326-CORE单模光纤连接器和光纤跳线的一般要求
3缩略语、术语和定义
下列缩略语、术语和定义适用于本标准.
3.1缩略语
ACC APD Automatie Current Control Avalanche Photodiode 自动电流控制 雪崩光电二极管APC Automatic Power Control 自动功率控制C Allowed failures 样品中允许失效数CO Activation Energy Central Office 中心局环境E. ESD Eleetro-Statie Discharge 激活能 静电放电FIT Failure In Time 每十亿器件小时的失效数HBM Human Body Model 人体模型LTPD Lot Tolerance Percent Defective 批允许不合格品百分数Objective 目标R SS Requirement Sample Size 要求 特定的LTPD样品数TO Transistor Outline 品体管外形UNC Uncontrolled
非受控环境
3.2术语和定义
下列术语和定义适用于本标准.
3.2. 1
产品在规定的时间内完成规定功能的能力.
3.2.2
二极管diode
半导体品片被分解成管芯后，将一个管芯安装在一个热沉上，称之为二极管.
3.2.3
组件module
器件集成在一起，称之为组件.
3. 2. 4
中心局环境COenvironment
长期在5C到40C，短期（例如96h，一年不超过15天）在最低一5C到最高50C的工作环境，称为中心局环境.
3.2.5
非受控环境UNCenvironment
当设备机壳外的空气温度在一40C到十46C范围，或者阳光照射和光电子器件散热达到最大值时，在机壳内，光电子器件周围的空气温度可达到十65C的工作环境，称为非受控环境.
4可靠性评定的一般要求
4.1光电子器件评定的目的
光电子器件评定有两个基本目的.特性参数的评定是为了证实光电子器件满足设备生产者对性能要求的能力.机械完整性和环境应力试验的评定是验证光电子器件基本设计、生产和材料以及工艺的完整性，以保证光电子器件预期的长期可靠性.评定需要的文件：
评定试验计划： 目浙喜-试验和测量程序；-评定抽样方案和可以接受的试验样品不合格数量；记录试验数据的规范格式： 一确认试验是否通过或失效的标准：
一结果分布和试验失效的报告.
4.2评定的抽样方案
用于评定的可靠性试验样品应从最少3个品片或3批（光电子二极管）经过筛选步骤的样品中随机抽取.对于光电子器件组件，可用一个批次光电子器件组件的样品.
评定试验规定LTPD值一般是10或20，对应的样品数量是22或11.在LTPD值等于10时，如果在最初的22个样品中发现一只不合格的光电子器件，第二次应抽取16只样品进行试验.如果在第二次抽取的样品中没有不合格的光电子器件，可以认为产品中的38个样品有一只不合格，通过了LTPD二次应抽取7只样品进行试验.如果没有发现另外不合格的光电子器件，就符合LTPD为20%的标 为10%的标准.同样，LTPD值为20时，如果在最初的11只样品中发现一只不合格的光电子器件，第准.评定的抽样方案见表1.
