中华人民共和国国家标准
GB/T31358-2015
半导体激光器总规范
General specification for semiconductor lasers
中国国家标准化管理委员会 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布
目
5技术要求.
5.1外观质量要求5.2性能、结构和使用条件要求.5.4寿命要求 5.3环境适应性要求5.5安全要求
6.1 一般要求6.2外观检查6.3性能和结构参数测试 6.4环境适应性测试6.5寿命测试6.6安全测试
7.1总则7.2检验分类 7.3批的组成7.4抽样方案及合格判定7.5检验分组
7.6型式检验7.7逐批检验 7.8周期检验 11118标志、包装、运输和贮存 8.1标志. 128.2包装 12 128.3运输和存. 12
前言
本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草.
本标准由中国机械工业联合会提出.
本标准由全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会（SAC/TC284）归口，
本标准起草单位：西安炬光科技有限公司、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院半导体研究所、北京国科世纪激光技术有限公司、武汉华工正源光子技术有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所.
本标准主要起草人：刘兴胜、赵卫、许国栋、张艳春、杨军红、马晓宇、王警卫、王贞福、谢彦虎、吴迪、李小宁、史俊红、唐琦、王家赞、张国新、仲莉、石朝辉、张恩、许海明、陈海蓉、王晓燕.
半导体激光器总规范
1范围
本标准规定了半导体激光器的通用要求，包括术语和定义、分类、技术要求、测试要求、检验规则、标志、包装、运输和贮存.
本标准适用于半导体激光器的研制、生产和交付等，半导体激光器组件可参考执行.
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的.凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件.凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括的修改单）适用于本文件.
GB/T2423.1电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T191包装储运图示标志GB/T2423.2电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温GB/T2423.3电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验GB/T2423.5电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ea和导则：冲击GB/T2828.1计数抽样检验程序第1部分：按接收质量（AQL）检索的逐批检验抽样计划 GB/T2423.10电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc：振动（正弦）GB/T2829周期检验计数抽样程序及表（适用于对过程稳定性的检验）GB2894安全标志及其使用导则GB/T6388运输包装收发货标志 GB7247.1激光产品的安全第1部分：设备分类、要求GB/T7247.13激光产品的安全第13部分：激光产品的分类测量GB/T10320激光设备和设施的电气安全GB/T12339防护用内包装材料GB/T15313激光术语 GB/T31359半导体激光器测试方法
3术语和定义
GB/T15313界定的以及下列术语和定义适用于本文件.
3.1半导体激光器semiconductorlaser以半导体材料为激光介质的激光器.
3.2 垂直腔面发射半导体激光器verticalcavitysurface emittinglaser出光方向垂直于p-n结平面的半导体激光器.注：改写GB/T 15313-2008-定义2.4 21.
