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GB/T 31568-2015 热喷涂热障ZrO2涂层晶粒尺寸的测定 谢乐公式法.pdf

X射线,实验,标准化,测量,涂层,推荐性国家标准
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中华人民共和国国家标准

GB/T31568-2015

热喷涂热障ZrO2涂层 晶粒尺寸的测定谢乐公式法

Standardtestmethodfordetermination ofcrystallite size of ZrOcoatings by Scherrer equation

中国国家标准化管理委员会 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布

前言

本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草.本标准由中国机械工业联合会提出. 本标准由全国金属与非金属覆盖层标准化技术委员会(SAC/TC57)归口.本标准起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所.本标准主要起草人:程国峰、黄月鸿、阮音捷、曾毅、宋力昕.

热喷涂热障ZrO涂层 晶粒尺寸的测定谢乐公式法

1范围

本标准规定了应用X射线衍射谢乐公式法测定热喷涂热障ZrO:涂层试样中立方、四方、单斜三种相ZrO:晶粒尺寸的方法原理、测试条件及计算步骤等.

本标准适用于晶粒尺寸在2nm~100nm范围、内部无不均匀应变的试样.

2术语和定义

下列术语和定义适用于本文件.

2.1热障ZrO:涂层thermal barrier ZrO:coatings

采用热喷涂制备工艺制备的ZrO:基的涂层材料.

2.2晶粒crystallite内部分子、原子等有规律排列的微小单晶.

2.3 晶粒尺寸crystallite sizeL晶粒在(hk)晶面法线方向上的平均尺度.

2.4半高宽full width at half maximum of peak profile;FWHM 衍射峰峰高极大值一半处的峰宽.

3方法原理

对试样照射X射线,测量所得到的衍射线,假设试样中没有晶体结构的不完整,则衍射线的宽化仅由晶粒的细化引起,可利用式(1)(谢乐公式)计算晶粒尺寸:

式中:

Lu-晶粒在(hkl)晶面法线方向的平均尺度,单位为纳米(nm);K 常数,与3的定义有关.当β定义为半高宽时,K=0.89;实验所用的X射线波长,0.154056nm;(hk)晶面衍射峰的布拉格角,单位为度(°). 由晶粒细化引起的试样某(hkl)晶面衍射峰的半高宽(需扣除背底),单位为弧度(rad);

此外,本标准中,试样半高宽Bu由式(2)获得:

(2)

式中:

Bu实验所测得的试样某晶面衍射线的半高宽(需扣除背底),单位为弧度(rad):

b.由仪器产生的附加半高宽(简称仪器宽度,需要用标准物质校准),单位为弧度(rad).

4仪器、测量条件和测量方法

4.1衍射仪性能指标

衍射仪29角度的单向重复精度不大于0.003°,衍射强度综合稳定度优于0.5%.

4.2辐射类型

CuKa 辐射.

4.3测量条件

4.3.1管压和管流

管电压40kV,管电流不小于40mA.

4.3.2狭缝系统

发散狭缝1°.防散射狭缝1°.接受狭缝0.15mm.

4.3.3扫描方式和速度

步进扫描,步长0.02°,每步停留时间为1s~2s.

4.4衍射峰位20角度值和半高宽的测量方法

采用pseudo-Voigt峰形函数拟合测得的实验谱,使得实验谱与拟合谱线的最小剩余误差R小于10%,从面测得各衍射峰的20角度值和半高宽值.

注:R按式(3)计算:

[3 ]

式中:

1 测量强度; 对拟合区城数据点求和;I-计算强度.

5样品的要求和制样方法

5.1标准物质

5.1.1要求

采用编号为GBW(E)130014的X射线衍射硅粉末作为标准物质校正29角度及仪器宽度,

5.1.2标准物质的装填方法

面,要求倾斜试样板60时标准物质不从槽中脱落. 将标准物质放入试样板回槽内,用载玻片均匀铺开后压紧,标准物质表面与试样板表面处在同一平

5.2热障ZrO涂层试样

5.2.1要求

待测块状热障ZrO:涂层试样表面需平整.

5.2.2试样的装填方法

采用中空的铝或有机玻聘试样板,固定方法见图1.

图1试样装填方法示意图

6实验步骤

6.1制作20角度校正曲线

6.1.2将6.1.1得到的20角度值与附录A中表A.1给出的标准20角度值对比,计算差值△29. 定的方法测量各衍射峰的29角度值.

6.1.1采用外标法对标准物质按4.3规定的测量条件进行扫描,20角度扫描范围为28~70°,按4.4规

6.1.3将6.1.1得到的20为横坐标,6.1.2得到的△20为纵坐标,采用最小二乘法绘制出校正曲线.

6.2制作仪器宽度校正曲线

6.2.1采用外标法对标准物质按4.3规定的测量条件进行扫描,20角度扫描范围为28~70°,按4.4规 定的方法测量各衍射峰的半高宽.

6.2.2将6.1.1得到的29为横坐标,6.2.1得到的半高宽为纵坐标,采用内插法绘制仪器宽度校正曲线.

6.3试样衍射峰20角度值的校正

按附录B中表B.1选择不同晶型ZrO:相应的测量晶面,设定20角度扫描范围,按4.3规定的方法进行扫描,按4.4规定的方法测量各衍射线的29角度值,用6.1.3的校正曲线对试样的20角度值进行校正,并将校正后的26角度值记录在附录B表B.1中.立方、四方、单斜相ZrO:的标准衍射数据分别见附录C中表C.1、表C.2和表C.3.

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