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GB/T 17626.36-2024电磁兼容 试验和测量技术 第36部分:设备和系统的有意电磁干扰抗扰度试验方法.pdf

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中华人民共和国国家标准

GB/T 17626.36-2024/IEC 61000-4-36:2020

电磁兼容试验和测量技术 第36部分:设备和系统的有意电磁干扰 抗扰度试验方法

Electromagnetic patibility-Testingandmeasurement techniques-Part 36:Intentional electromagnetic interference immunity testmethods forequipment and systems

[IEC61000-4-36:2020 Electromagnetic patibility(EMC)-Part4-36:Testing and measurement techniques-IEMI immunity testmethods for equipment and systems IDT]

国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布

前言引言1范围2规范性引用文件3术语、定义和缩略语3.1术语和定义 3.2缩略语4概述5IEMI环境和作用5.1概述5.2IEMI环境.5.2.1技术能力分组5.2.2IEM1部署方案5.2.3辐射IEMI环境总结5.2.4已发布的传导IEMI环境5.3对受扰设备、系统和装置的作用 5.3.1概述5.3.2防护等级6试验方法6.1适用试验方法的推导6.2传递函数的推导 106.3使用IEMI模拟器的辐射试验 106.4使用混波室的辐射试验 106.5复杂波形注人(CWI)6.6阻尼正弦波注人(DSI) 116.7静电放电(ESD) II6.8电快速瞬变(EFT). 6.9天线编口注人7试验参数 11 127.1抗扰度试验参数的推导 127.2辐射试验参数 127.2.1通用超宽带试验参数(熟练人员) 127.2.2通用宽带试验参数(熟练人员) 13

7.2.3通用窄带试验参数(熟练人员) 157.3通用传导IEMI试验参数 167.3.1一般要求7.3.2快速阻尼振荡波发生器的特性和性能 177.4特定的试验电平推导 187.5EMC抗扰度数据的相关性附录A(资料性)失效机制和性能判据A.2失效机理 A.1概述A.2.1概述.A.2.2噪声..A.2.3 参数偏移和漂移 21A.2.4 系统故障或崩溃.A.2.5部件损坏A.3脉冲宽度的影响A.5参考文献 A.4性能判据附录B(资料性)IEMI源环境的发展概述 25 25B.2IEMI环境B.3 IEMI 源B.4已发布的辐射IEMI环境B.4.1IEC 61000-2-13B.4.2Mil-Std-464C 30B.4.3宽带抗扰度试验的参数选择B.4.4国际电信联盟(1TU)B.5总.B.6参考文献. 与建筑物的相互作用附录C(资料性) C.1建筑物的衰减C.2 与电缆的耦合 37C.3 低压电缆衰减C.4参考文献 38附录D(资料性) 平面波抗扰度试验与混波室抗抗度试验的关系 40D.1 述 40D.2 两种环境中屏蔽效能测量值之间的关系$ D 3 两种环境中抗扰度试验的关系

D.5参考文.. D.4补充内容 43附录E(资料性)复杂波形注人-试验方法 46E.1概述 46E.2预测 46E.2.1概述 46E.2.2示例 49E.3结E.4注人试验E.5总结 56附录F(资料性)试验方法裕度的重要性 E.6参考文献 57F.1概述 57F.2示例F.2.1 概述F.2.2负值贡献.F.2.3正值贡献.F.2.4总 19F.3参考文献..附录G(资料性) 有意EM1- 干扰机的问题G.1概述 G.2效应G.3关于干扰的公开报道 29G.4风险评估 63G.5缓解措施 63G.6参考文献附录H(规范性) 超宽带和宽带辐射瞬态抗扰度试验方法 65H.1概述 65H.2试验设备H.2.1概述.. 65H.2.2试验设施H.2.4宽带瞬态脉冲辐射试验系统 H.2.3超宽带瞬态脉冲辐射试验系统H.2.5测量链.. 66H3场均匀性评估H.3.1暗室中的场均匀性评估 67H.3.2GTEM波导中的场均匀性

H.4试验布置 69H.4.1通则 69H.4.2台式设备布置.H.4.3落地式设备布置H.4.4线缆布置 71H.5试验程序 12.H.5.2实验室参考条件 H.5.1概述. 71H.5 3 试验的执行 71H.5.4试验结果评估 72H.6试验报告 73H.7参考文献 73附录1(资料性)用于测量超宽带和宽带辐射瞬态场的传感器校准方法和测量不确定度1.1概述 741.21EC61000-4-20:2010.附录ETEM波导中的校准方法 74L2.1概述1.2.2探头校准要求 74L3D-dot传感器时域校准程序 1.2.3单端口TEM波导的场强探头校准程序 761.3.1概述I.4测量不确定度 76 771.5参考文献参考文献

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