中华人民共和国国家标准 电子玻璃中氧化钴、氧化镍和二氧化锰 的原子吸收分析 GB9000.13-88 降为SJ/T10897-96 Determination of Co zO3 NiO AND MnO2 electronic glass by atomlc absorption- 本方法适用于电子玻璃中作为着色剂的钻、镍、锰的分析. 本方法应按GB9000.1《电子玻璃化学分析方法总则》的要求进行. 1方法提要 试样用氢氟酸和高氯酸分解、挥发除去二氧化硅、将残渣溶解于稀硝酸中.用原子吸收分光光度 计分别测定各元素的原子吸光度. 2试剂及溶液 氢氟酸： 高氯酸； 硝酸：1：1 氧化钻(Co203)标准溶液：0.5mg/ml 准确称取金属钻(99.99%以上)0.3553g于200ml烧杯中.加1：1硝酸50ml 低温溶解，加少 量水，煮沸.冷却，移入1000m1容量瓶中、以水稀释至刻度、摇匀. 氧化镍(NiO)标准溶液：mg.ml 准确称取金属镍(99 99%)0.7860g于200ml烧杯中、加1：1硝酸15ml 低温溶解，加少量水 煮沸，冷却.移入1000m容量瓶中、以水稀释至刻度、摇匀. 二氧化锰标准溶液：1mgml 准确称取金属锰(99.99以上，称量前用稀硫酸洗去表面氧化层、再用水洗除酸、乙醇脱水、 干)0.6319g于200m1烧杯中、加1：1硝酸20ml低温溶解，煮沸，冷却.移入1000ml容量瓶中、 水稀释至刻度、摇匀. 钴、镍、锰混合标准溶液 分别吸取氧化钴标准溶液5ml、氧化镍标准溶液、二氧化锰标准溶液各25ml于00ml容量瓶内- 用水稀释至刻度、摇匀.此溶液每毫升含氧化钻5μg、氧化镍50μg、二氧化锰50ug 钻、镍、锰混合标准溶液系列 准确吸取0、1、？、3、1、5、6m钻、镍、锰混合标准溶液分别置于50m容量瓶中、各 加1：！硝酸5ml、用水稀释至刻度、摇匀.组成混合标准溶液系列.其浓度如表！ 中华人民共和国电子工业部1988-03-09批准 1988-10-01实施 1 GB9000.13-88 表1钻、镍、锰混合标准溶液系列 序号 0 2 3 5 6 Co2O3 ug/ml 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 NiO ug/ml 0 1 2 3 5 MnO2 ug/ml 0 2 3 4 5 8测定条件 见表2. 表2测定条件 分析线 燃烧器长 燃烧器高 流量L/min 分析元素 火焰种类 nm cm mm 助燃气 可燃气 Co 240.7 10 .14 AIR-C:H2 6.5 1.8 Ni 232.0 10 14 AIR-C2Hz 6.5 1.6 Mn 279.5 10 14 AIR-C2H2 6.5 1.8 4分析步骤 4.1准确称取0.5g试样于铂皿中，以少许水润湿，加入5m1高氯酸，15ml氢氟酸，...

中华人民共和国国家标准 电子玻璃中氧化锌、氧化铅、氧化铝和氧化锑 的原子吸收分析 GB9000.12-88 Determination of ZnO PbO Al2O3 AND Sb2O3 降为SJ/T10896-96 in erectronic glass by atomic absorption 本方法适用于氧化锌、氧化铅含量分别在6以下的电子玻璃中氧化锌、气化铅、氧化铝和贷化 梯的分析. 本方法应按GB9000.1《电子玻璃化学分析方法总则》的要求进行： 1方法提要 试样用氢氟酸、高氯酸分解、挥发除尽二氧化硅，将残渣溶解在稀硝酸中，用原子吸收分光光度 计测定试液中各元素的原子吸光度. 2试剂及溶液 氢氟酸： 高氯酸： 硝酸：1：1： 氧化铝标准溶液：Al2O31mg/m1 准确称取金属铝（光谐纯或99.996以上）0.2616g置于200ml烧杯中，加入1：1硝酸20m1、加 热榕解，再于水浴上蒸发至近于、冷却.用1：1硝酸10m1溶解盐类、移入500m容量瓶中、以水稀释. 至刻度，摇匀. 氧化锌标准溶液：0.05mg/ml 准确称取高纯锌(99.9"6以上)0.2008g于200m1烧杯中.加1：1硝酸20ml.待溶解后.移入100 m容量瓶中，稀释至刻度、摇匀.从中吸取10m!溶液于500ml容量瓶内.加1：1硝酸10ml.以水稀释 至刻度、摇匀、 氧化梯标准溶液：0.5mg/ml 准确称取优级纯酒石酸氧梯钾〔K(SbO)CH0一H:O1.1156g溶解于水中.移入1000ml 容量瓶内、以水稀释至刻度，摇匀、 氧化铅标准溶液：0.5mg/ml 准确称取高纯铅(99.99以上)0.1612g溶解在！：1硝酸30m中，加热蒸发至近下加入1：1 硝酸20m1溶解盐类.移入1000m1容量瓶中.以水稀释至刻度、摇匀、 3仪器 原子吸收分光光变计： 空心阴极灯 中华人民共和国电子工业部1988-03-09批准 1988-10-01实施 1 GB9000.12-88 4测定条件 见下表. 表测定条件 分析线 燃烧器长 燃烧器高 流量L/min 分析元素 火焰种类 nm cm mm 助燃气 可燃气 Zn 213.9 10 5 AIR-C2H2 10 2 Pb 217.0 10 5 AIR-C2H2 10 2.5 AI 309.3 5 N2O-C2H2 7 7 Sb 231.1) 10 9 AIR-C2H 10 3.1 注：1)对不含氧化铅的电子玻璃中氧化梯的分析可选用217.6nm波长作为分析线. 5分析步骤 5.1试液的制备 准确称取0.1~05g试样于铂皿中，以少许水润湿、加5m高氯酸、20ml氢氟酸、放在砂浴上蒸 发至近干：冷却、再加5m高氯酸、继续在秒浴上蒸发至干、取下铂皿、冷却后加1：1硝酸10ml和 约30ml水，在水浴上加热溶解、冷却后移入...

中华人民共和国国家标准 电子玻璃中氧化钙、氧化锶、氧化钡及 氧化镁的原子吸收分析 GB9000.11-88 降为SJ/T10895-96 Determination of CaO SrO AND Mgo in electronic glass by atomic absorption 本方法适用于电于玻璃中氧化钙、氧化、氧化钡、氧化镁的分析.特别适用于钙、银、钡共存， 或者铅、钡共存的玻璃的分析. 本方法应按GB9000.1《电子玻璃化学分析方法总则》的要求进行. 1方法提要 试样用氢氟酸、高氯酸分解，挥发除尽二氧化硅.残渣溶解在稀硝酸中，用原子吸收分光光度计 分别测定试液中钙、、银、镁的原子吸光度. 2试剂及溶液 高氯酸： 氢氟酸； 硝酸钾溶液K40mg/ml、10mg/ml 称取103.4g硝酸钾溶于水中，以水稀释至1000ml.该溶液含K*40mg/ml. 吸取上述硝酸钾溶液50m于200ml容量瓶中，以水稀释至刻度.该溶液含K*为10mg.'ml. 高氯酸钢溶液：La3-20mg/ml 称氯化(LaCl37H20)26.7g于500m1烧杯中.加40ml高氯酸，置于砂浴上加热蒸发至干. 以水溶解于500m1容量瓶内稀释至刻度. 氧化钙标准溶液：0.1mg/ml 准确称取经105℃烘干的碳酸钙（基准试剂）1.785g于300ml烧杯中，加适量水，滴加1：1硝酸 使其溶解，并过量10ml 加热煮沸，在水浴上蒸发至干，以水溶解，移入1000m!容量瓶中，以水稀释 至刻度、摇匀.此溶液每毫升含氧化钙1mg、使用时、以水稀释10倍. 氧化银标准溶液：1mg/ml 准确称取经105℃干燥的硝酸银（优级纯）2.043g溶解于水中，移入1000m1容量瓶内，以水稀释 至刻度，摇匀. 氧化钡标准溶液：1mgml 准确称取经105℃干燥的硝酸钡（优级纯）1.7050g溶解在水中、移入1000m1容量瓶内以水稀释 至刻度.摇匀. 氧化镁标准溶液：0.1mg'm1 准确称取经105C烘干的碳酸镁（优级纯）2.092g300m1烧杯中，加适價水，滴加1：1的硝酸. 使其溶解、并过量10m 加热.煮沸在水浴上蒸发至下以水溶解、移入10u0ml容量瓶内、以永稀释 至刻度、摇匀.此溶液每毫升含氧化镁1mg:使用时以水稀释10倍 中华人民共和国电子工业部1988一03-09批准 1988-10-01实施 1 GB9000.11-88 3仪器 原子吸收分光光度计； 空心阴极灯. 4测定条件 见表1. 表1测定条件 分析线 燃烧器长 燃烧器高 流量L/min 测定元素 火焰种类 nm cm mm 助燃气 可燃气 Ca 422.7 10 8 AIR-C2H2 10 2.5 Sr 406.7 10 7 AIR-C2H2 10 2.5 Ba 553.5 5 7 N2O-CzH2 7 7 M...

中华人民共和国国家标准 电子玻璃中氧化锂、氧化钠和氧化钾 的原子吸收分析 GB9000.10-88 Determination of LizONazO and K2O 降为SJ/T10894-96 in electronic glass by atomic absorption 本方法应按GB9000.1《电子玻璃化学分析方法总则》的要求进行. 1方法提要 试样用氢氟酸、高氯酸分解、挥发除尽二氧化硅后，将残渣溶解在稀硝酸中.用原子吸收分光光 度计分别测定试液中锂、钠、钾的原子吸光度. 2试剂及溶液 硝酸：1：1： 氢氟酸； 高氯酸； 氧化锂标准溶液：1mg/ml 准确称取在105℃烘干的碳酸锂（优级纯）0.4946g于200m1烧杯中、缓缓加入1：1硝酸10ml 溶解后置于水浴上蒸发至干.加水溶解，移入200m1容量瓶中，稀释至刻度.保存于塑料瓶中. 标准混合碱溶液：含Li200.02mg/ml、Naz00.2mg 'ml、K200.3mg/ml. 准确称取在550℃灼烧过的氯化钠（基准试剂）0.3770g、氯化钾（基准试剂）0.1750g于100m1 烧杯中，加水溶解，移入1000m1容量瓶内；用移液管吸取氧化锂标准溶液20ml加入其中，以水稀释至 刻度，摇匀，储于塑料瓶中. 3仪器 原子吸收分光光度计： 空心阴极灯. 4测定条件 见表1. 中华人民共和国电子工业部1988一03-09批准 1988-10-01实施 1 GB9000.10-88 表1测定条件 燃烧器长 流量L/min 分析线 燃烧器高 测定元素 燃烧器角 火焰种类 nm cm mm 助燃气 可燃气 Li 670.7 10 2 0 AIR-C2H2 10 2.5 Na 589.0 10 5 30 AIR-C2H2 10 2.5 K 766.5 10 5 30° AIR-C2H2 10 2.5 5分析步骤 5.1准确称取试样0.3~1.0g 于铂皿中，以水润湿，加5ml高氯酸、20m1氢氟酸.放在砂浴上加. 热分解，蒸发至近干.冷却，用水吹洗壁，再加5m高氯酸.继续在砂浴上蒸发至干.取下铂皿， 盖上盖子，加入1：1硝酸2ml、40ml热水，放在水浴上加热溶解残渣.至清彻，冷却、移入250ml容 量瓶中，以水稀释至刻度、摇匀. 5.2吸取5.1条的试样溶液10m1于100ml容量瓶中，用水稀释至刻度. 注：如果试样中三种氧化物的含量相差较大、应以含量最低的氧化物为目标分取试液.然后扩大稀释倍数测定 其它氧化物. 5.3按表1中测定条件调整好原子吸收分光光度计，分别测定试液中锂、钠、钾的原子吸光度. 5.4标准曲线的绘制 5.4.1技表2所列数量分别吸取标准混合减溶液置于100m1容量瓶内（性）加入1：1硝酸2~3滴： 以水稀释至刻度，摇匀.制成标准溶液系列.以下按分析步骤5 3条进行. 注：...

UDC666.1:621.38:54 L32 GB 中华人民共和国国家标准 GB9000.1一88 降为SJ/T10893-96 电子玻璃化学分析标准方法 Standard methods for chemical analysis of electronic glass 1888-04-11发布 1988-10-01实施 回家标准局发布 中华人民共和国国家标准 电子玻璃化学分析方法总则 GB9000.1-88 The general rules for chemical analysis of electronic glass 1试剂 1.1试剂的纯度 所用试剂凡未加注明者，均为分析纯试剂：标定溶液浓度的试剂应为基准试剂. 分析用水应为蒸馏水或去离子水. 1.2试剂的浓度 不注明浓度的酸和氨水系指符合下列质量百分浓度的试剂. 名称 浓度、% 盐酸 36-38 硝酸 65-68 硫酸 95~98 氢氟酸 40以上 高氯酸 70~72 冰醋酸 99 8以上 磷酸 88以上 氢溴酸 45-46 氨水 25~28. 不需标定的稀酸或稀氮水的浓度，用体积比(V/V)表示.即上述试剂的体积与稀释时所加水的 体积之比.如1：99的盐酸系指1体积的盐酸与99体积的水相混和的溶液. 固体试剂的溶液浓度，一般用固体溶质的质量/溶剂体积的百分比(m/V)浓度表示.如2氢 氧化钠溶液、指20g氢氧化钠溶解于100m1溶剂中而配制成的溶液.未注明溶剂的溶液均指水溶液. 2试样 分析试样必须代表平均组成、没有外来杂质混入.经粗粉碎后、选粒径在0.17一0.10mm之问的颗 粒约20g、平摊在干净的白纸上用磁铁除去粉碎试样时带入的铁屑、然后在玛瑞研钵中研细，通过0.12 mm孔径标准筛.置于称量瓶内. 分析试样应于100一l10C烘箱中烘1h以上.然后置于干燥器中，冷却至室温后称量. 3准确称量必须使用万分之一分析天平、称准至0.0001.恒量是指连续两次称量之差不大F 000028:天平与砝码应定期鉴定. 一般称量可在十分之一或百分之一的天平上进行. 所用仪器和量器亦应经过校正. 4分析结果的有效数字按表1取舍 中华人民共和国电子工业部198803-09批准 19881001实施 1 GB9000.1—88 表1 含量范田% 保留有效数字的位数 1~100 0.1~0.99 2 0.01~0.09 1或2 <0.01 1或2 实际记录结果时，位数应比上述规定的有效数字位数多记一位. 5平行样偏差 每批样品的分析最少应有2个平行试样.平行样间允许偏差如表2： 表2 组分 含量，% 偏差≤ 组分 含量，% 偏差≤ Si02 240 0.25 B203 25 0.20 SiO2 <40 0.15 B203 <5 0.10 Mgo ≤10 0.10 Al203 ≤5 0 10 Sro ...

中华人民共和国国家标准 盘封管电性能测试方法 UDC621.385.13 调幅调相转换系数的测试方法 GB7273.7-87 降为SJ/T10870-96 Measurements of the electrical properties of disk-seal tubes Measuring methods of AM-PM conversion coefficlent 本标准适用于空间电荷控制盘封管调幅调相转换系数的测试方法. 测试设备及测试规则应符合GB7273.1一87《盘封管电性能测试方法总则》. 1定义 当射频输出功率为恒定平均值时，相对于射频输入电压的射频输出电压的相位变化量除以射频激 励功率变化量所得的商即为调幅调相转换系数. 调幅调相转换系数用下式表示； do K=-dPin 式中：K一调幅调相转换系数，度/分贝： d一输出信号相对于输入信号相位变化量， dPin一激励功率变化量. 2测试原理及方框图 调幅调相转换系数测试方框图如下： 可变衰减器 被测 2 管电路 微波 可变衰减器 匹配负载 信号源 1 功率匹配器 数字微相位计 可变衰减器 3 标准相移器 国家标准局1987-02-19发布 1987-12-01实施 1 GB7273.7-87 激励信号通过功率分配器，一端至匹配负载，其余两端输出经过标准相移器和被测管所组成的电 路.衰减器用于调节信号源及进入参考支路和测量支路的信号幅度. 当输入信号幅度变化时，经过参考支路的信号，其相位不发生变化，而经过被测支路的信号，由 于盘封管的非线性特性，输出信号的相位要发生变化. 为减小测量误差，相移器为一精密标准相移器，对电源的稳定度要求相当高. 3测量方法 8.1开启微波信号源，预热至频率不再漂移为止，并使被测管所组成的电路处于规定工作状况下. 3.2调节两支路的衰减器和标准相移器，这时相位计显示出某一相位值中1. 3.3调节衰减器1，改变输入信号幅度，相位计显示出另一相位值2. 3.4根据相位值与输入信号的变化量之比即可求出调幅调相转换系数K之值. 附加说明： 本标准由中华人民共和国电子工业部提出. 本标准由779厂和电子工业部标准化研究所负责起草. 2 ...

中华人民共和国国家标准 UDC621.885.13 盘封管电性能测试方法 GBT273.6-87 功率增益的测试方法 降为SJ/T10869-96 Measurements of the electrical properties of disk-seal tubes Measuring methods of the power gain 本标准适用于空间电荷控制盘封管功率增益的测试. 测试设备及测试规则应符合GB7273.1一87《盘封管电性能测试方法总则》. 1定义 功率增益是指在规定的工作条件下，盘封管的输出功率与激励功率的比值，通常用分贝表示，由 下式给出： P2 G=101g P1 (1) 式中：G一一功率增益，dB; P1一—激励功率，W; P2——输出功率，W. 2基本原理 盘封管用作功率放大，如果工作条件（电流、电压、频率等）已定，当激励功率较小时，其输出 功率正比于激励功率，功率增益为一恒定值.此值即为小信号增益. 随着激励功率的增加，放大器件进入非线性工作范围，其功率增益要下降几个分贝.所以在测试 功率增益时，往往要规定出输出功率电平在某一个额定值.即要测所需测定的有用功率增益，通常由下 式给出： P2 Gap 101g P1 (2) 式中：Gap一有用功率增益，dB; P1一一有用激励功率，W; P2一一额定的输出功率，W. 测试方法 3.1替代法： 8.1.1方框图 国家标准局1987-02-19发布 1987-12-01实施 1 GB7273:6-87 被测 可变衰减器1 香组成的 放大器 检测器 信号源 和 匹配负载 B B 可变衰减器z 图1替代法方框图 将信号源的正弦信号通过一个已校衰减器和被测管组成的放大器馈送到检测器上.该检测器是具 有足够灵敏度的任何一类功率指示装置，且能工作在所测量的输出信号电平上. 3.1.2测试方法 .将开关拨至位置A 调节衰减器1，使得检测器给出一个读数，并记下此时衰减器1的衰减 量a1值 b.将开关拨至位置B 调节衰减器2，使得检测器所给出的读数与步骤a的读数相同，记下此时 衰减器2的衰减量a2值， c 按下式计算： G=a2一a1 即为在某一频率下的增益量. 8.2用与输入输出回路匹配的功率计直接测出输入、输出射频功率的方法： 被测 信号发生器 定向辆合器 管组成的 定向合器 匹配负载 放大器 功率计 功率计 图2功率增益测试方框图 被测管连接在如图2所示的传输系统中，端接一匹配负载，以获得最大功率输出. 3.3在测试时，电子管的工作条件（工作电压及调谐）可为下列情况之一， .保持在规定值； b.进行调节，以提供最大的增益. 附加说明： 本标准由中华人民共和国电子工业部提出. 本标准由779厂和电子工业部标准化研究所起草. 2 ...

中华人民共和国国家标准 盘封管电性能测试方法 UDC621.385.13 自中和频率的测试方法 GB7273.5-87 降为SJ/T10868-96 Measurements of the electrical properties of disk-seal tubes Measuring methods of selfneutralization frequency 本标准适用于空间电荷控制盘封管自中和频率的测试. 测试设备及测试规则应符合GB7273.1一87《盘封管电性能测试方法总则》. 1定义 自中和频率是指盘封管的反向转移导纳（内部）为最小时的频率. 2测试原理及方框图 盘封管的内部是一种大大影响工作的特性.在三级管的共栅电路中，频率较低时，即取 决于阳极阴极电容.当栅极呈现出明显的感应电抗时，即会在某一特殊频率上出现中和，称之为自中 和频率.当高于自中和频率时，则即变为电感性的，并随频率十分迅速地增加.栅极结构不同的 某一特殊类型的盘封管，只有当它们具有相同的自中和频率时，才能互换. 盘封管的典型测试安排和测试方框图分别如图1和图2. 被测管 传输线 具有极小合的极接触簧片 图1盘封管的典型测试安排 国家标准局1987-02-19发布 1987-12-01实施 1 GB7273.5-87 信号发生器 定向耦合器 输入变换 被测管 四端网络 电极系统 探测器 灵敏探测器 输出变换 四端网络 图2测试方框图 3测试方法 测试自中和频率时，应将盘封管作为无源四端网络插入一具有恒定特性阻抗的传输线中，最好是 同轴线，且频率特性是已确定的.由栅极接触处隙缝所引起的耦合必须尽可能的低.从阳极那边便于 进行这种测试. 向同轴线供给能量的是一可变频率的信号发生器.用一定向耦合器及灵敏探测器，在规定的输人 及输出基准面上测出以频率为函数的电压幅值(U1及U2).当U2/U1具有明显最小值的频率值即为自 中和频率的值. 附加说明： 本标准由中华人民共和国电子工业部提出. 本标准由779厂和电子工业部标准化研究所负责起草. 2 ...

中华人民共和国国家标准 盘封管电性能测试方法 UDC621.385.13 谐振腔无载品质因数Q的测试方法 GB7273.4-87. 降为SJ/T10867-96 Measurements of the electrlcal properties of disk-seal tubes Measuring methods of resonator unloaded Q 本标准适用于空间电荷控制盘封放大管所配用的谐振腔无载品质因数（又称固有品质因数）Q值 的测量. 测试设备及测试规则应符合GB7273.1一87《盘封管电性能测试方法总则》. 1定义 配有盘封管的标准电路在无电极电流流过时的Q值，即不带负载谐振腔的谐振频率和两半功率点 频率差之比. 2测试原理 被测管应放在频率位置测量规范所规定的适当标准电路内.用探测器指示的电平低于谐振电平3dB 时的两个频率和谐振频率来确定Q值，所用公式如下： fo Q=f2-f 式中：fo一一谐振频率； f1 f2一一3分贝频率点. 8PE f f fo fa 谐振腔频率响应曲线 国家标准局1987-02-19发布 1987-12-01实施 1 GB7273.4-87 3测试方框图 技测管 信号发生器 可变衰减器 与 探测器 谐振腔 及仪表 3.1信号发生器输出的频率能连续可调，应能覆盖被测谐振腔的频带宽度. 3.2在测试过程中，信号发生器的输出功率、功率稳定度及频率稳定度应满足测试要求. 3.3可变衰减器应有能满足测试要求的分贝量程标度. 3.4探测器的频率特性应满足被测频率的要求. 4测试方法 4.1将信号发生器的频率调在待测腔的谐振频率上，使探测器的指示为最大，记下请振频率fo.其 后应保持探测器与腔的耦合度不变，信号发生器输出功率不变. .4.2将可变衰减器调整在某一标度位置，并记下探测器的电平值. 4.3增加可变衰减器的衰减量3dB.记下此时探测器的电平值，此值即对应于半功率的电平. 4.4撤去增加的3dB衰减，探测器指示应回到fo点处的电平. 4.5在谐振频率两边改变信号发生器的频率，并记下探测器指示电平等于半功率点电平时的两频率 f和f2(这里f2>fo>f). 4.6应用测量原理公式计算无载品质因数Q值. 注：在测试阴极电路的无载Q值时，盘封管应加标称热丝电压且处于截止状态下. 对标准帘栅极电路不进行无载Q值的测试. 附加说明： 本标准由中华人民共和国电子工业部提出. 本标准由779厂和电子工业部标准化研究所负责起草. 2 ...

中华人民共和国国家标准 盘封管电性能测试方法 UDC621.385.13 频率位置的测试方法 GB7273.3-87 降为SJ/T10866-96 Measurements of the electrical properties of disk-seal tubes Measuring methods of the frequency position 本标准适用于空间电荷控制盘封管频率特性的测试. 测试设备及测试规则应符合GB7273.1一87《盘封管电性能测试方法总则》. 1基本原理 为了保证各生产厂大量生产的盘封管具有互换性，不仅盘封管的常规参数要一致，且许多的微波 特性也要相似.用于盘封管的谐振器一般都是同轴的，因此盘封管成为电路的一个主要部分.电路的 谐振频率不仅决定于所采用某一盘封管的总电容，而且决定于管壳内部的电容分布状况以及电极连接 有关联的盘封管金属部件的形状.因此，除了需要测试电容外，还要在标准电路内观察频率及频率变 化. 频率位置就是盘封管连同标准电路测量时的谐振频率. 2测试原理图 微波 电子管 探测器 信号源 谐振腔 及仪表 图1频率位置测试方框图 频率位置是用一标准谐振腔来测出的（如图1所示）. 在测试各种不同类型的盘封管的频率位置时，要求用以下标准电路测出. 三极管：标准阳极电路（阳极到控制栅） 标准阴极电路（阴极到控制栅） 四极管：标准阳极电路（阳极到帘栅极） 标准阴极电路（阴极到控制栅） 标准帘栅极电路（帘栅到控制栅） 在此项测试中每次只能将一种电路连接到被测管上.为了避免未被连接的电极影响测试电路，这 些电极应由有损耗的材料包围或处在一失谐电路中. 3确定各类型盘封管的频率位置的标准电路 典型的标准电路如图2~图6所示.图中所标注的尺寸(D、d、L)由制造厂规定，其直径公差 范围应符合下表： 国家标准局1987-02-19发布 1987-12-01实施 1 GB7278.3-87 直径，mm 标准公差，μm 直径mm 标准公差，μm 80~120 87 >3~6 30 >120~180 100 >6~10 36 >180250 115 >10~18 43 >250-315 130 >18~30 52 >315~400 140 >30~50. 62 >400~500 155 >50~80 74 测试无插座面的盘封管，则应规定其他合适的基准面，以保证被测管在标准电路内处于正确位 置. 图2四极管的标准阳极电路 L 图3四极管的标准帘栅极电路 2 GB7273.3-87 L 图4四极管的标准阴极电路 a”式 “b”式 FA -K “c”式 图5各式三极管的标准阳极电路 3 ...

中华人民共和国国家标准 盘封管电性能测试方法 UDC621.385.13 频率响应特性的测试方法 GB7273.2-87 降为SJ/T10865-96 Measurements of the electrical properties of disk-seal tubes Measuring methods of the frequency-response characteristic 本标准适用于空间电荷控制盘封二极管频率响应特性的测试. 测试设备及测试规则应符合GB7273.1一87《盘封管电性能测试方法总则》. 1基本原理 盘封二极管主要在伏特计内作整流器用.如果加上一频率变化的幅度恒定的射频电压，则整流电 压一般来说取决于频率.如图1所示.其连接电感可能造成一个谐振的尖峰曲线.如图1A区所示. 因此引起灵敏度的增加. 由于电子渡越时间效应及各种损耗，故在图1所示区内的灵敏度急剧下降.如果频率响应特性 保持在某些值以内，则该盘封二极管可作为伏特计的整流器来使用. U A区 B区 3 dB 3dB 请振状态 非谐振状态 0 f L f 图1整流电压与频率的关系 国家标准局1987-02-19发布 1987-12-01实施 1 GB7273.2-87 2测试原理图 匹配 信号源 负载 R C 图2二极管频率特性测试原理图 为了进行测试，二极管应作为探针式伏特计接在用匹配负载端接的同轴线内，其输入射频电压要 保持在规定值. 电路中电容器的电感要尽可能的小，以便使其对响应特性的影响忽略不计.从而能够测出跨在负 载电阻上的整流电压随频率而发生的变化. 附加说明： 本标准由中华人民共和国电子工业部提出. 本标准由779厂和电子工业部标准化研究所负责起草. 2 ...

UDC621.385.13 1.38 GB 中华人民共和国国家标准 GB7273.1-87 降为SJ/T10864-96 盘封管电性能测试方法 Measurements of the electrical properties of disk-seal tubes 1987-02-19发布 1987-12-01实施 回家标准局批准 中华人民共和国国家标准 UDC621.385.13 盘封管电性能测试方法 总则 GB7273.1-87 Measurements of the electrical properties of disk-seal tubes General 本标准适用于空间电荷控制盘封管电参数的测试.本标准规定了测试设备的要求和测试规则. 盘封管测试规范和采用的具体测试方法，应在详细规范中加以规定. 测试设备 1.1测试盘封管用的设备除符合本标准外，还应符合有关电气设备的规定和标准以及技术安全的要 求. 1.2对测试设备的要求，凡是本标准没有规定的，但在某些测试方法中又是必须的，则应在测试方 法的标准或盘封管详细规范中加以规定. 1.3如果测试设备的准确度受到外界电磁场影响或测试设备对其他设备、仪器产生干扰时，测试设 备周围环境应有屏蔽措施，并且在电源引入端加滤波装置. 1.4测试设备不允许存在寄生振荡，为此可将抑制寄生振荡的元件接人测试设备，但不得影响测试 精度. 1.5被测管管座引出端间的绝缘电阻应不小于200M2.被测管互不联结的电极电路间的绝缘电阻 应不小于500M2. 测试绝缘电阻的直流电压值不小于500V. 1.6若被测管各电极的直流电压值和极性在测试标准或详细规范中未加规定时，均指对电路的公共 点而言. 1.6.1在测试直热式盘封管时，电路公共点应为： a.当灯丝电源为直流时，电路公共点应是与灯丝供电电源负端相接的灯丝引出端.在电子管详 细规范中应指出灯丝的哪一引出线与电源负端相接. b.当灯丝电源为交流时，电路公共点应是灯丝电源变压器次级线圈的中心点或并联于灯丝电源 的分压器的中心点. 1.6.2在测试旁热式盘封管时，被测管的阴极引出端为公共点.如阴极电路中接有自偏压电阻时， 电路公共点应是电阻与阴极不相接的一端， 1.7供电的直流电源接在带有交流成分的电路上时，必须对交流分量有很小的内阻或用电容器来旁 路.电容器必须符合下列要求： 当交流分量流过时，电源输出端电容器上的压降不超过总交流分量的1%，其交流分量的有效值 不得超过直流电压值的1%. 1.8如果在对阴极电位具有正电位的电极电路中接有测试仪表、保护装置和其他元件，在电极电流 为规定值时，在它上面产生的直流电压降不得超过该电极规定电压的0.5%. 1.9测量热丝电压的测试点至被测管热丝引出端（被测管热丝管脚）间的电压降应不超过热丝电压 规定值的0.2%.如达不到时，电压表应...

中华人民共和国国家标准 UDC621.382.049 77:531.7 铬版光密度的测试方法 GB7241-87 降为SJ/T10861-96 Method of testing optical density of chrome blanks 本标准适用于铬版光密度的测试. 1测试原理 光密度D的定义： 入射光强度与透射光强度比值的常用对数为光密度. I入 D=lB-I选 透射光密度测量原理见方框图： 光电倍增管 电压放大器 电源放大器 高压电源 透射光 补偿电路 试样 入射光 电压表 在回路中采用光电倍增管，对加在电光倍增管阴极上的电压，进行自动调整，以便维持阴极 电流不变，对投射到光敏阴极上不同光量而维持电流不变的阴极电压，即作为置于光源与光电倍增管 之间被测物的光密度的度量（见原理方框图），当加人被测物后，光电倍增管内光敏区的光通量改变时， 电压放大器的输入信号也变化，此信号经放大后，延至功率级，再去控制高压电源的输出.高压电源 的输出电压作相应的变化，以便保持光电倍增管阴极电源不变.电压表用来测定此变压器的电压变化， 由于电压表定标成光密度单位，电压表的变化也表示光密度的变化. 光电倍增管电压在200~800V内变化，相应地被测物的光密度为0~4.0，此关系也不是全部成线 性的，因此，用了一个补偿电路把电压表读数校正到指定的标准值. 2测试仪器 透射光密度计. 国家标准局1987-02-06批准 1987-11-01实施 1 GB7241-87 3测试步骤 3.1接通电源，预热时间为5min. 3.2选择读数范围嵌件，通常使用2mm 当读数范围小或大时，分别选入1mm和3mm的嵌件. 3.3调零：在没有样品的情况下，按下头部操纵杆，使用右边的调零旋钮，调整至读数为零，然后 松开头部操纵杆. 3.4校正：使用“CAL”等级尺，放人测量区，按下操纵杆，观察读数，如不一致可调整后部 的CAL电位器，直到相对应为止，然后松开操纵杆，取出等级尺. 3.5测量工作完毕，关闭电源. 4注意事项 定期用“CAL”等级尺校正仪器. 5测试结果 数字显示直接读出. 附加说明： 本标准由中华人民共和国电子工业部提出. 本标准由电子1业部标准化研究所、电子.工业部4435和航天工业部771所负责起草. 2 ...

中华人民共和国国家标准 UDC621.382.049 .77:531.7 铬版铬膜表面反射率的测试方法 GB7240-87 降为SJ/T10860-96 Method of testing the surface reflectivity of chromium film on chrome blanks 本标准适用于铬版的铬膜表面反射率的测试. 1测试原理 1.1光学系统测试原理 光学系统测试原理方框图见图1. 光源变换滤色镜 S源镜 鸭灯 重氢灯 人射 平面镜M 一窄缝（出口） S2球面镜 光 成对匹配柱面镜 参考束 遮光器 与遮光器 Ss 匹配的平面镜 >匹配球面镜 抽样束 准直反射镜M1 Z1 光电倍增管 图1 光源灯射出的光线由源镜S1反射到入射缝.在可见光范围内，(315~750nm) 钨卤灯(W灯) 的光线经过预先过滤后，反射到人射缝.然后在紫外范围内(195~315nm) 一个自动灯变换镜转到 光束通道，将氖灯的光线反射到入射缝.一个Littrow结构的光栅单色仪和一束从窄缝口射出的带通 量为2m的单色光，可把光谱线色散出射缝的图象由球面镜S2聚焦到一个旋转遮光器上.遮光器又 交替地将图象反射到抽样束和参考束，它还产生一连串的参考束和抽样束“脉冲”和一个在光束完全 被遮断时出现的黑间隔“脉冲”.一对压配的柱面镜(Z 、Z2) 将每个光束的图象聚焦在盒平面上. 在盒内光束截面积为1.6mm×11mm(宽×高). 另外两个球面镜(S3、S4)和一个平面镜(S5)将这种辐射线反射到光电倍增器上. 只有光学匹配的镜，才能在参考束和抽样束中使用，而且反射系数和反射角，和光程在两束中都 国家标准局1987-02-06批准 1987-11-01实施 1 GB7240-87 是一样的，这些措施保证了在各种波长的最佳测光条件. 1.2电子系统测试原理 电子系统测试原理方框图见图2. 抽样箱 纵坐标 步进马达 显示 前置 信号开 T/A对数 A/DA/D 微计算机 BCD 波长 光电管 关转换 转换器 模数、数楼 坐标 二一十进制 放大器 计数器 转换器 编码输出 1 回路 高压 背景回路 前面板 记录仪 输出 数据转输 △波长 图2 光能量落到光电倍增器上，并转换成相当数量的电能.光电倍增器的信号，在前置放大器被放大， 然后送入信号开关电路.这是由光学遮光器上的光束以正确的相位关系进行调节的.这样，参考信号 被送入一个频道，而抽样信号馈送到另一个频道.参考信号和.回路中一个固定值比较.光电倍增管 的高压这样调整，即使得电的参考信号总是呈现一个固定值.这样，抽样电信号和抽样电信号与参考 信号之比成正比（也即和抽样的光传输成正比），因为如果不考虑辐射通量密度变化时，参考电信号总 是保持同一值不变. 这个正比于抽样信号的模拟信号，根据所选的方式，选不同的通道. 在...

中华人民共和国国家标准 UDC621.382.049 .77:531.7 铬版铬膜和胶膜厚度的测试方法 GB7239-87 降为SJ/T10859-96 Method of testing the chromium film and photoresist thickness of chrome blanks 本标准适用于铬版铬膜和胶膜厚度的测试. 1测试原理 1.1a-阶梯测量仪测量原理方框图 测量用信号源 (5kHz) 阶梯高度传感器 测量信号预放大器摸拟控制开关 校准放大器 记录仪 B C D F G 曲线 钢针 阶梯高 校准样片 E 8200 剩余斜度鉴别器 1.1.1阶梯高度检测原理 由测量信号源A产生一个5kHz的正弦信号注入阶梯高度传感器B 当钢针在样片表面移动时， 它将会随样片表面的起伏或阶梯部位而上下运动，因而使传感器中的电感耦合元件也随之运动，故传 感器之次级便输出一个随表面轮廓（起伏）而变化的交流信号，经预放大器放大，送至模拟控制开 关，为了使样片上的小的起伏值不至反映在测量曲线上，使曲线平整光滑，以便可检测主要的阶梯值， 故设有一个剩余斜度鉴别器E 用于控制模拟控制开关，当反映表面起伏的倾角小于某一角度a时，输 出信号亦很小，通过模拟开关使校准放大器F的入端接地，记录仪无输出（这便是阶梯仪名称的由来）， 校准放大器的输出信号送至记录仪，调节F放大器的放大系数，使校准样片(820nm)在记录纸上画 出的阶梯高度为8.2格，则记录纸上每一大格便表示100m 这样就可以放入待测样片进行测量. 1.1.2校平的作用 国家标准局1987-02-06批准 1987-11-01实施 1 GB7239-87 当钢针臂的扫描平面与样片不平行时，即使样片表面绝对平整，钢针也会上下移动，因而会引起 很大的测量误差，故在自动测量方式时，仪器要进行2~3次0.5mm长度的扫描，由此检测出样片的 倾斜程度信号，并送给机构，使钢针臂转动一相应角度，直至校平. 2测试仪器 a-阶梯薄膜及表面轮廓测量仪. 3测量步骤 3.1测量前应仔细阅读并熟悉操作说明有关内容、及控制面板上各控制钮的作用与功能. 3.2将仪器控制单元后部的电源电缆接市电电源（约220V)将控制单元与扫描单元的互连电缆接 好. 3.3将凸轮杆往前拉，使钢针缩回，载物台下降.在使载物台上下移动时，注意不要使载物台与钢 针架相碰. 3.4将控制单元右上方之量程开关拨在10kA档，仪器后部的水平放大开关打在“×50”档. 3.5将控制单元后部的电源开关打开（此时面板右上方之电源指示灯亮），预热15min. 3.6根据不同的材料调好钢针跟踪力. 3.7插入校准样片时，E旋钮的调节位置要适当，当凸轮杆往前拉时，样片与钢针架之间的距离 为2mm;凸轮杆往后推拉时，应有0.5mm的间隙. 3.8调零：将凸轮...

中华人民共和国国家标准 UDC621.882.049 .77:531:7 玻璃及铬版表面平整度的测试方法 GB7238-87 降为SJ/T10858-96 Method of testing suriace flatness of the glass substrate and chromium film 本标准适用于玻璃及以其为基片的铬版表面平整度的测试. 1玻璃及铬版表面平整度的气动测试方法 .1.1测试原理 测试原理见图1.气体在压力下，首先流经减压喷嘴D 接着进入调节室R 浮子阀把压力降到 恒定压，另一部分经喷嘴G流入调节室E 然后离开调节室经管口流出.喷嘴G的横切面积保持 恒定，而管口的气流随被测件表面变化而变化，由此产生的压力差由压力表M记录并按刻度尺读数. R 测试片 00 测试片 p D Po GE 图1 1.2测试仪器 气动测平仪. 1.3测试步骤 1.3.1打开气源阀门，检查气压，如不符合要求，调节阀门，至1.5~2.0压力. 1.3.2轻轻放上标准玻璃，调节校零螺杆. 1.3.3调整至0后，转90°角调0，依次进行四次.此项工作在每次测量前都要进行. 1.3.4调零后，轻取标准平板，放人测试片. 国家标准局1987-02-06批准 1987-11-01实施 1 GB7238-87 1.3.5待指示液面平稳后，偏离零位最大1一μm|μM|为测量值.再转一次90°，取2次 中最大值为该片的平整度值. 1.3.6工作完毕后，关掉气源，用镜头纸擦净支撑点利和喷嘴，并放上保护片. 1.4注意享项 测试片应垂直上下，轻取轻放，严禁在测试台上平行拖动. 1.5测试结果 直接读数，即偏离零位最大的！-um|m|数值. 2玻璃及铬版表面平整度的激光干涉测试方法 2.1测试原理 该仪器与普通干涉式平整度测试仪不同，首先是它的比例间距不是，而是刚好为1μm 因而它 的入射角要小得多，对仪器进行调节，使千涉条纹间距正好相应于1m的高度差.由于该仪器可以任 意调节干涉条纹的位置，因此大大简化了计算. 2.2测试仪器 氨氖激光干涉仪. 2.3测试步 2.3.1接通电源（灯亮），预热数分钟. 2.3.2取下测盘面盒盖，根据样片选择垫片，将被测片小心放在下面两个调整支架点上，然后靠在 垫片上. 2.3.3转动调整旋钮，观察显示的图象，调出干涉环. 2.3.4操作完毕后，关闭电源，盖上测量面盒盖. 2.4注意事项 观察图象时，不要在高于显示面15°处观察，以防射线损伤眼睛. 2.5测试结果 根据图2干涉坏，计算其平整度的数值. 3个环表示平整度偏差3m 平整度偏差为上： dr a 22m 4范围平整度偏差为零 d平整度一个环1m的 边缘倾斜 图2 附加说明： 本标准由中华人民共和国电子工业部提出. 本标准由电子工业部标准化研究所、电子工业部4435厂和航天工业...

ICS31.040 L13 备案号： SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T10775—2013 代替SJ/T10775—2000 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器 RJ14型金属膜固定电阻器评定水平E Detail specification for electronic ponents Fixed low-power non-wirewound resistors Type RJ14 metal film fixed resistors Assessment level E 2013-10-17发布 2013-12-01实施 中华人民共和国工业和信息化部发布 SJ/T10775—2013 前言 本规范按照GB/T1.1一2009给出的规则起草，并按GB/T5731一1985《电子设备用固定电阻器第2 部分：空白详细规范：低功率非线绕固定电阻器评定水平E》(idt IEC60115-2-1:1982)的格式编 写. 本规范代替SJ/T10775一2000《电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定 电阻器详细规范评定水平E》.主要变化如下 a)电阻器引线长度由(28士2) 15 线线径为中0.40mm士0.03mm的 b)电阻器； c) 增加了±50x10的电阻温度系数： d) 阻值范围由“4 0~2.2M2”扩展为“1~5.1M2” e)增加了无铅线电阻器的树焊性试验方法： EORMATION TE f)将原规范康用的工标准改为相应的国家标准或行业标准： g)增加了附录A 本规范的附录为规范性附录 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本规范由全国电平设备用阻容元件标准化技术委员会归口. 本规范起草单位：北京七友晟电子有 限公司. NOI 本规范起草人请立月、肖建华 国家标准GB587B1986 《电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器14型金属膜固定电阻 器详细规范评定水平E》干1997年被调整为行业标准SJ/T10775一1996，并于20 00年进行了第一次修订， 本次是对SJ/T10775第次修订. STANDARDS I SJ/T10775—2013 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器 RJ14型金属膜固定电阻器评定水平E 中华人民共和国工业和信息化部 SJ/T10775-2013 GB/T5731—1985 按GB/T5729—2003《电子 定 IEC60115-2-1:1982 第1部分：心规卷 评定质量的电子 ORMATION QC400101 INDUSTY 形图 低功率非线绕固定电阻器 单位：mm 型金属膜固定电阻器 SJ N 定水平：E 稳定度等级：2% “引线根部漆长 按本详细规范鉴定合格的元件的有效数据在鉴定合格产品览表币给出. 1一般...

ICS17.220.20 L85 备案号： SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T10683—2013 代替SJ/T106831995 示波器用无源电压探极通用规范 General specification of passive voltage probes for oscilloscopes 2013-10-17发布 2013-12-01实施 中华人民共和国工业和信息化部发布 SJ/T106832013 目 次 前言 II 1范围 2规范性引用文件 3术语和定义 4分类 5要求 DUSTRYZ 2 6测试方法 4 7检验规则 8标志、包装 10 9随机文件 0 MULSININ CHNOL SJ 11 STANDARDS SJ/T106832013 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 本标准自发布之日起代替SJ/T10683一1995《示波器用无源电压探极通用技术条件》. 本标准与SJ/T10683一1995相比主要技术变化如下： —修改了“性能特性中的有关误差指标的给出方式： —“术语和定义”章中增加了《探极木读田，对源申压探极”、“相位补偿范围”做了修改； 增加了“（探极）读出的要求和试验方法，修订了“相位补范围要求和试验方法； 删除了“1KHz方波失座 要求和试验方法，相应内容体现在功能压常性”检查条款中： 增加了第9章 随 请注意本文件的某内容勇能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本标准由全国电子量收器标准化技术姿会 SJ 日口. 本标准起草单 北京普源电科技有限公司 本标准所代准的历次版本发布情况为： —SJ/T10683 1995. MULSININ STANDARDS II ...

ICS31.030 L90 备案号；10998—2002 SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T10675—2002 代替SJ/T10675一1995 20032095 电子及电器工业用二氧化硅微粉 Silicon dioxide micropowder for electronic and electrical equipment industry 海 丽 2002-10-30发布 2003-03-01实施 中华人民共和国信息产业部发布 SJ/T10675—2002 目 次 前言 I 1范围. 2规范性引用文件. .....1 3术语和定义... .1 4分类和标记 ........1 ..3 6试验方法. 7检验规则.. ...8 8标志、包装运输、贮存 ....8 I SJ/T10675—2002 前 言 本标准代替SJ/T10675一1995《电子及电器工业用硅微粉》. 本标准与SJ/T10675一1995主要差异如下： 引用文件中改为最新版本； 增加了规范性引用文件； 增加和删除了部分产品品种； 修改了产品规格表示方法； 补充了产品命名内容： 调整了部分技术指标，划分了产品等级； 改进了粒度表示方法和萃取水中氯的测试方法. 本标准由中国电子技术标准化研究所(CESI)归口. 本标准由浙江湖州久立华飞硅微粉有限公司负责起草. 本标准主要起草人：钱军、张毓君、刘翁、敖洲. ...

ICS31.220.10 L23 GJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T106442014 代替SJ/T10644一1995 TJC2型条形连接器详细规范 Detail specification for bar electrical connectors type TJC2 2014-10-14发布 2015-04-01实施 中华人民共和国工业和信息化部发布 4 」 SJ/T10644-2014 前言 本规范按照GB/T1.1一2009的规则起草. 本规范代替SJ/T10644一1995《TJC2型条形连接器详细规范》. 本规范与SJ/T10644一1995对比主要变化如下： —气候等级由25/85/4改为25/85/10（见8章）. 一一增加交变湿热试验项目（见表4）. 一修改插入力和拔出力指标（见表4）： 请注意本规范的某些内容可能涉及专利.本规范的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本规范由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口. 本规范起草单位：浙江德利接插件有限公司. “ 本规范主要起草人：任安德、杨安石、张文川、向良纯. 本规范的历次版本发布情况为：1995年4月22日首次发布，本次为第一次修订. 一 I SJ/T10644-2014 TJC2型条形连接器详细规范 1范围 本规范规定了TJC2型条形连接器的详细要求. 本规范适用于TJC2型条形连接器.接触件间距为5mm 阳接触件直径为中1.55mm 阴接触件的接 端为压接式连接.额定电压为250V(50Hz 有效值)，额定电流不大于5A 供彩色电视广播接收机 及类似用途的电子设备用.目的为TJC2型条形连接器的技术要求和试验方法，提供统一的规范. 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的.凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件. 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括的修改单）适用于本文件 GB1804一2000、未注公差尺寸的极限偏差， SJ/T10642一2014TJC型条形连接器通用规范 3术语和定义 SJ/T10642 一2014界定的术语和定义适用于本规范. 4产品分类 连接器规格：按接触件数目分为1、2、3、4、5、6.阴接触件压接导线规格见表1的规定. 表1导线规格 七股导线标称截面积 导线线规号 0.12 26 0.21 .1 24 0.33 22 0.52 20 5要求 5.1外购的绝缘材料应满足本规范规定的技术要求和试验项目，并进行特性试验. 5.2接触件及引出端应按本规范规定的要求，进行机械强度和表面质量试验. 5.3按本规范规定的机械寿命和互配性要求，应指导连接器的性能设计. 5.4连接器的制造，应按本规范规定的检验和试验要求，对初始制造、过程工序和最终产品实行控制. 1 ...