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GB/T 35839-2018 无损检测 工业计算机层析成像(CT)密度测量方法.pdf

分辨力,材料,标准化,检测,测量,推荐性国家标准
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中华人民共和国国家标准

GB/T35839-2018

无损检测

工业计算机层析成像(CT)密度测量方法

Non-destructive testing-Test method for measuring industrial puted tomography (CT) density

中国国家标准化管理委员会 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布

目次

前言1范2规范性引用文件3术语和定义4基本要求5检测方法6检测工艺7测量流程 8检测记录和报告附录A(资料性附录) 密度对比试件制作规范附录B(资料性附录) 典型材料不同能量下质量衰减系数附录C(资料性附录)等效能量计算方法

前言

本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草.

本标准由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口.

科技集团川南机械厂、中国人民解放军96630部队、重庆红宇精密工业有限责任公司、湖北三江航天江 本标准起草单位:重庆大学、重庆真测科技股份有限公司、中国兵器科学研究院宁波分院、中国航天北机械工程有限公司.

本标准主要起草人:沈宽、王班、蔡玉芳、刘丰林、段晓礁、卢艳平、倪培君、张政、苏志军、杨大洪、王晓勇、高锐、郭智敏、张维国.

无损检测 工业计算机层析成像(CT)密度测量方法

1范围

本标准适用于使用能量范围为200keV~10MeV的工业CT系统对常见金属和非金属材料进行 本标准规定了使用工业计算机层析成像(CT)设备对物体的密度进行测量的方法.

密度测量.

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的.凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件.凡是不注日期的引用文件其最新版本(包括的修改单)适用于本文件.

GB/T9445无损检测人员资格鉴定与认证(GB/T9445-2015,ISO9712:2012 IDT) GB/T29069无损检测工业计算机层析成像(CT)系统性能测试方法

GB/T34365无损检测术语工业计算机层析成像(CT)检测

3术语和定义

GB/T34365界定的以及下列术语和定义适用于本文件.

4基本要求

4.1检测人员

4.1.1从事工业CT密度测量的人员应符合GB/T9445和GB/T29070中有关检测人员的要求.4.1.2从事工业CT密度测量的人员要具备材料、结构、工艺等相关知识,并经过工业CT密度测量的专门技术培训.

4.2环境条件

4.2.1满足GB/T29070关于环境条件的要求.4.2.2检测室和控制室的放射防护条件应符合满足使用单位要求.

4.3检测设备

4.3.1设备组成

工业CT系统一般由射线源系统、探测系统、数据采集传输系统、机械系统、控制系统、图像处理系统和辐射安全防护系统等组成.

4.3.2设备性能

工业CT设备射线源的能量应满足被检测工件的穿透力要求.密度分辨力性能指标应满足实际被

测工件密度的检测要求,通常情况下,密度分辨力指标应优于0.5%.空间分辨率、扫描时间等其他指标应满足实际产品的检测要求.

4.3.3设备性能校验

按照GB/T29069规定定期对CT系统的空间分辨力和密度分辨力等主要性能指标进行测试.在设备安装调试、维修或更换部件后,应对主要性能指标进行测试,并记录测试结果.

4.4密度对比试件

4.4.1概述

密度对比试件是在使用工业CT进行密度测量时,用来与待测工件进行密度比对的标准样件组,其中每一个密度标准样件由均质材料构成其密度值经过校准,射线衰减特性与被测样品相同或相近.密度对比试件含多个密度标准样件,其密度范围涵盖待测物体密度范围.

4.4.2制作要求

应针对不同材料的产品、不同密度范围、不同部位进行单独设计和制作密度对比试件.密度对比试件的设计和制作要求参见附录A.

4.4.3密度值的校准和核查

密度对比试件的密度值在首次使用时应进行校准.在使用过程中,每隔半年应采用排水法或其他适当的方法进行核查,如发现密度值变化范围超过0.5%时应重新进行校准.

5检测方法

5.1方法一

与线性衰减系数之间的关系,见式(1).利用该关系计算出被测材料的线性衰减系数,再除以该材料的 基本原理就是通过对密度对比试件进行工业CT扫描,建立当前扫描条件下密度对比试件CT数质量衰减系数,就能得到相应的质量密度,见式(2).常见物质的质量衰减系数参见附录B.

式中:

NcT--被测样品的CT数平均值:

μ线性衰减系数:

、C常数.

式中:

β一-被测样品的密度值,单位为克每立方厘米(g/cm);

μ线性衰减系数;

μ质量衰减系数.

该方法由于需要已知被测物质的质量衰减系数,因此不能测量未知成分的物质或是难以测定质量衰减系数的聚合物类物质.由于不同能量下质量衰减系数是不同的,因此使用该方法时首先需要确定CT系统的等效能量,等效能量计算方法参见附录C,当等效能量在200keV~2MeV时,质量衰减系

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