JJF(电子) 0060-2021 半导体工艺用安时计现场校准规范.pdf

信息化,校准,电子科技,研究所,计量单位,计量检定
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中华人民共和国工业和信息化部 电子计量技术规范

JJF(电子)0060-2021

半导体工艺用安时计现场 校准规范

Field Calibration Specifications for Ampere -hourMeters ofSemiconductor Process

中华人民共和国工业和信息化部发布

半导体工艺用安时计现场 校准规范

Field Calibration Specifications forAmpere-hour Meters ofSemiconductor Process

归口单位:中国电子技术标准化研究院主要起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所

本规范技术条文委托起草单位负责解释

本规范主要起草人:

参加起草人:

乔玉娥(中国电子科技集团公司第十三研究所)吴爱华(中国电子科技集团公司第十三研究所)荆晓冬(中国电子科技集团公司第十三研究所)

翟玉卫(中国电子科技集团公司第十三研究所)任宇龙(中国电子科技集团公司第十三研究所)张立飞(中国电子科技集团公司第十三研究所)

引言 (125)1范围 (126)2术语和计量单位 (126)3概述. (126)4计量特性 (127)4.1 安时 (127)4.2 直流电流 (127)4.3 校准条件 直流电压 (127) (127)5.1 环境条件 (127)5.2 校准用设备 (127)6校准项目和校准方法 (128)6. 1 校准项目 (128)6.2 外观及工作正常性检查 (128)6.3 校准方法 (128)校准结果表达 (131)8复校时间间隔 (131)9附录 (131)附录A (132)附录B (133)附录C (134)

引 言

本规范依据JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》、JF1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》编写.

本规范为首次发布.

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