ICS31.200 CCS L 56 T 团 体 标 准 T/CIE134-2022 磁随机存储芯片数据保持时间测试方法 Test methods for data retention time of magnetic random-access memory chips 2022-08-10发布 2022-08-10实施 中国电子学会发布 中国标准出版社 出版 T/CIE134-2022 目 次 前言 Ⅲ 1范围 …….1 2规范性引用文件……………………… ………………………………………1 3术语和定义…… ……1 4测试设备及条件……………… …………2 4.1测试设备和装置 ……2 4.2测试条件 …….2 5测试方法…… ………2 5.1通则…………… ………2 5.2磁随机存储芯片的数据保持时间测试 …………………3 5.2.1测试原理 ……………3 5.2.2测试方法 ………… …………………….4 5.2.3测试记录 ….5 参考文献…… 6 T/CIE134-2022 前言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别专利的责任. 本文件由中国电子学会提出并归口. 本文件起草单位：北京航空航天大学、致真存储（北京）科技有限公司、中国电子科技集团公司第五 十八研究所、上海佑磁信息科技有限公司、北京时代民芯科技有限公司、深圳存科技有限责任公司、合 肥致真精密设备有限公司. 本文件主要起草人：赵巍胜、彭守仲、李伟祥、芦家琪、李月婷、雷娜、曹凯华、王昭昊、聂天晓、 张博宇、刘佳豪、刘照春、王戈飞、刘宏喜、赵桂林、帅喆、孙杰杰、王超、卢辉、王亮、郑宏超、陆时进、 李鑫云、曹安妮、郭玮、何帆、程厚义、杜寅昌. Ⅲ ...
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