L23 ICS 31.220.10
中华人民共和国国家标准
GB/T5095.2507-2021/IEC60512-25-7:2004
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g: 阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR）
Electromechanical ponents for electronic equipment Basic testing procedures and measuring methods Part 25-7:Test 25g: Impedance,reflection coefficient, and voltage standing wave ratio (VsWR) [IEC 60512-25-7:2004,Connectors for electronic equipment- Tests and measurements-Part 25-7: Test 25 g:Impedance, reflection coefficient, and voltage standing wave ratio(VSWR)，IDT]
2021-03-09发布2021-10-01实施 国家市场监督管理总局发布 国家标准化管理委员会
GB/T 5095.2507-2021/IEC 60512-25-7:2004
目次
前言 1范围和目的 2术语和定义 3试验设施 3.1设备 3.2装置 4试验样品 4.1说明 5试验程序 5.1时域 5.2频域 6相关标准应规定的细则 7试验记录文件 附录A（规范性附录）测量系统上升时间 附录B（资料性附录）样品近端和远端的确定11 附录C（资料性附录）校准标准和试验板标准线路12 附录D（资料性附录）TDR阻抗曲线图说明15 附录E（资料性附录）电气终端17 附录F（资料性附录）实用指南一一可变上升时间 附录G（资料性附录）电子测量用印制电路板的设计依据20 附录H（资料性附录）试验信号发射构件24
GB/T 5095.2507-2021/IEC 60512-25-7:2004
前言
GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。
GB/T5095的第25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下： --第25-1部分：试验25a：串扰比； --第25-2部分：试验25b：衰减（插人损耗）； 一第25-3部分：试验25c：上升时间衰减； --第25-4部分：试验25d：传输时延； -第25-5部分：试验25e：回波损耗； --第25-6部分：试验25f：眼图和抖动； -一第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR)； -第25-9部分：信号完整性试验试验25i：外来串扰。
本部分为GB/T5095的第25-7部分。
本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。
本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-7：2004《电子设备用连接器试验和测量第25-7部 分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR）》。
本部分做了下列编辑性修改： 标准名称由《电子设备用连接器试验和测量第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压 驻波比（VSWR）》修改为《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-7部分：试 验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR）》。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。
本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口。
本部分起草单位：四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。
本部分主要起草人：庞斌、朱茗、肖森、刘俊、汪其龙。
GB/T 5095.2507-2021/IEC60512-25-7:2004
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g： 阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR）
1范围和目的
本部分描述了在时域和频域内测量阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR)的试验方法。
注：这些测试方法是为专业试验人员编写的，这些试验人员具备电子领域的专业知识并经过使用测试设备的培训。
由于测量值受装置和设备的强烈影响，该方法未能叙述可能的复合作用。
主要设备制造厂提供的应用说 明书，对如何最恰当的使用其设备作了更深人的专业说明。
至关重要的是相关标准中宜包括让试验人员了解 如何安排和进行所要求测量的说明和简图。
2术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
2.1 测量系统上升时间measurement system ...
