ICS33.180 M33 YD 中华人民共和国通信行业标准 YD/T702—2018 代替YD/T702一1993 PIN-FET光接收组件测试方法 Test methods of PIN-FET optical receive assembly 2018-12-21发布 2019-04-01实施 中华人民共和国工业和信息化部发布 YD/T7022018 目次 前言 Ⅱ 1范围 1 2规范性引用文件 3术语和定义 4测试方法 3 4.1测试环境要求 3 4.2测试仪器要求 .3 4.3PIN光电二极管特征参数测试方法 .4 4.4PIN-FET组件特征参数测试方法 4 5可靠性试验 10 5.1可靠性试验环境要求 10 5.2可靠性试验要求 11 5.3失效判据 12 附录A(资料性附录)PIN管芯参数测试 附录B(资料性附录)PIN-FET组件灵敏度计算公式由来. 18 I YD/T702—2018 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 本标准代替YD/T702一1993《PIN/FET光接收组件测试方法》.本标准与YD/T702一1993相比， 主要技术变化如下： —增加了规范性引用文件YD/T1199.1一2002、YD/T1353—2015、YD/T2288.2—2011、ANSI/ESD STM5.1-2007、Telcordia GR-468-CORE:2004等标准的引用（见2）： —增加了对PIN-FET组件、无光电压、电压响应度和电流响应度的术语定义（见3.1 3.7 3.8， 3.9); 一PIN-FET组件的特征参数测试内容由原5个参数调整到9个参数，去掉对原标准中对响应波长 参数的测试要求，新增加对无光电压、电流响应度、电压响应度、跨阻抗和输出阻抗参数的测 试方法（见4.4.1 4.4.2 4.4.3 4.4.4和4.4.9）； —增加了一种针对PIN-FET组件带宽指标的测试方法（见4.4.6）： —增加了一种针对PIN-FET组件灵敏度指标的测试方法（见4.4.7）； —增加了对可靠性试验的要求，包括了可靠性试验测试环境的要求以及对物理特性试验、机械完 整性试验、非工作环境试验、工作环境试验等项目的测试要求和引用标准，同时增加了对于可 靠性测试项目的失效判据依据（见5）. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本标准由中国通信标准化协会提出并归口. 本标准起草单位：烽火科技集团有限公司、中兴通讯股份有限公司，深圳新飞通光电子技术有限公 司，武汉华工正源光子技术有限公司. 本标准主要起草人：官成钢、陈小梅、朱振涛、刘天明、武成宾、陈悦、刘王来. 本标准于1993年首次发布，本次为第一次修订. Ⅱ ...
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