ICS31.200 L55 备案号： SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T11706—2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 Semiconductor integrated circuits test methodof field programmable gate array 2018-02-09发布 2018-04-01实施 中华人民共和国工业和信息化部发布 SJ/T11706—2018 目次 前言 1范围 2规范性引用文件 3术语和定义 .1 4一般要求 2 4.1标准大气条件 AND NFOR 2 4.2注意事项 2 4.3测试设备 2 4.4 电源和参考电 2 4.5输入输出单 2 4.6测试流程 2 5详细要求 .3 5.1静态修数 3 5.2动参数 5.3开米参 SJ .9 5.4功测 11 附录A(资料竹 可配管塔测式 15 附录B(资料性 ISTKIW 嵌入式功能模块试方法 24 STANDARDS SJ/T117062018 前言 本标准按照GB/T1.1一2009《标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写》给出的规则编写. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出. 本标准由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路标准化分技术委员会(SAC/TC78/SC2)归口. 本标准起草单位：中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电 子技术研究所、中国电子科技集团公司第47研究所、中国电子科技集团公司第58研究所、中国航天科技 集团公司第九研究院第772研究所、深圳国微电子有限公司、成都华微电子科技有限公司、复旦大学、 成都振芯科技股份有限公司、中国航天科技集团公司. 本标准主要起草人：刘芳、尹航、胡海涛、刘彬、周慧、贾一平、杜海军、陈诚、蒙喜鹏、王佩宁、 张路、王健、罗彬. II ...
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