ICS31.180 CCS L 30 CSTM 团体标准 T/CSTM00986-2023 信息 高频介质基板的复介电常数测试平衡型圆 盘谐振器法 Test method for the plex permittivity of high-frequency dielectric substrates -Balanced-type circular disk resonator method 全国 2023-04-07发布 2023-07-07实施 中关村材料试验技术联盟 发布 T/CSTM00986—2023 目次 前言 2 引言 1范围.. 4 2规范性引用文件， .........4 3术语和定义.. ......4 4符号和缩略语....... . 4 5原理.... ......5 6环境条件 5 7仪器设备... ...6 8样品要求. 6 9测试步骤..... 6 9.1样品预处理.... 6 9.2仪器准备..... 6 9.3样品尺寸测量...... 6 9.4样品安装.... ..6 9.5常温测试.....，.. 6 10注意事项... 7 11试验报告 ..7 附录A(资料性)介电常数和介质损耗角正切计算 . .8 附录B(资料性)测试系统连接框图 .11 附录C(资料性)样品制备与安装 ..12 附录D(资料性)起草单位和主要起草人 .........13 全国团 1 T/CSTM00986—2023 前言 入 本文件参照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》，GB/T 20001.4一2015《标准编写规则第4部分：试验方法标准》的规定起草. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别专利的责任. 本文件由中国材料与试验标准化委员会电子材料领域委员会(CSTM/FC51)提出. 本文件由中国材料与试验团体标准化委员会电子材料领域委员会 (CSTM/FC51)归口. 全国团体标准信息 2 ...
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