GB/T 7265.2-1987固体电介质微波复介电常数的测试方法 开式腔法.pdf

介质,半功率点,圆柱体,尺寸,直径,推荐性国家标准
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中华人民共和国国家标准

GB7265.2-87

固体电介质微波复介电常数的 测试方法 “开式腔”法

Testmethodforplexpermittivityofsolid dielectric materials atmicrowavefrequencies-"Open cavity”method

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中华人民共和国国家标准

固体电介质微波复介电常数的 测试方法 “开式腔”法

UDC 621.315.61011.5:621 317.08GB7265.2-87

Test method for plex permittivityof solid dielectric materialsatmicrowave frequencies-“Open cavity”method

本标准测试对象是固体电介质材料.

本标准述及的介电特性由相对介电常数实部e'和介质损耗角正切tand,所表示.

图1tan =2 × 10-4~6 × 10-1

1测量原理

一段直径为d,高度为L的正题柱体或圆盘状介质波导,两端被金属板短路,见图2.当L=n

时(入为介质波导波长,为正整数1、2、3).产生谐振现象,成为介质腔,又称为“开式腔”

图2

“开式腔”存在多种谐振模式.选择TE.模工作,能够避免试样端面与短路板间隙电容的影响.对每个确定的介质腔来说,它的谐振频率和介电常数e'有关,品质因数Q和介质损耗有关.因此,根据介质腔试样的直径、高度、测得的“开式腔”谐振频率和有载品质因数,可以计算出介质的介电常数e'和损耗角正切tano

2介质试样

2.1试样形状-正圆柱体

试样尺寸根据介电常数e'的大致范围和测试频率确定.一般原则是:

7L<D.... (2) L<d<2.5L... (3) 式中:L-样品高度,mm;d--样品直径,mm;D---短路板直径,mm. 2.2试样尺寸和要求 正圆柱体试样公差:d±0.01mm:L±0.01mm;正圆柱体两端面平行度小于0.05°;圆柱体倾斜度小于1°;试样锥度小于0.1°品体试样要求轴线定向小于±5'. 试样表面无不正常斑点,内部均匀,无杂质.测试前必须进行清洁和干燥处理. 3测试条件 3.1正常的测试大气条件温度:20~30℃;相对湿度:45%~75%气压:86~106kPa. 3.2仲裁测试的标准大气条件温度:25±1℃,相对湿度:48%~52%;气压:86~106kPa. 4测试方法 4.1“开式腔” 4.1.1短路板 两块圆形短路平板,对紧贴试样端面的一面,要求板面平整,表面粗糙度小于R0.20μm,镀银厚 度20μm,银层外覆薄金保护层.圆板直径应取试样高度的7倍左右.一般取80~100mm. 4.1.2耦合装置 采用小环或探针耦合方式.微波传输线选用微型硬同轴线,合度连续可调,调节装置传动平稳.耦合传输系统引人的附加反射系数小于0.08. 4.1.3机械辅助装置 上、下短路板的高度位置能分别调节,采用平移传动方式以防止样品位置变化. 4.1.4“开式腔”简图 见附录A. 4.2测试系统 采用图3所示的测试系统. 图3 4.8测试方法概述 “开式腔”和波长计的频响曲线,调节波长计使两谐振峰峰尖相合,从而测定“开式腔”谐振频率f.. 借助标准精密衰减器、波长计测出“开式腔”谐振曲线半功率点带宽△f,从而测定“开式腔”有载品质因数QL. 4.4主要测试仪器要求 4.4.1扫频信号源 输出功率大于50mW,幅值稳定度优于0.04dB/10min. 4.4.2标准精密衰减器使用范围:0~10dB;精确度:0.02dB/10dB; 4.4.3谐振式波长计 精确度:优于1.5×10-5,Q值:大于50000. 4.4.4品体检波器工作范围内驻波比S小于1.3. 4.4.5双踪示波器灵敏度优于0.2mV/div. 4.4.6隔离器 隔离比大于20dB; 正、反向驻波比S小于1.05; 频带宽度大于15%. 4.5测试步骤 4.5.1测定样品直径d,高度L. 4.5.2开机预热一小时,系统进人正常工作状态,标准衰减器处于某一固定衰减值a.(dB). 4.5.3将样品置于下短路板中央,调节下短路板高度使耦合装置位于 L 2 (TE模)或(TE2模)附近,适当调节耦合元件和试样的间距,使示波器上出现“开式腔”的TE或TEo模的谐振曲线. 4.5.4调节波长计,使其谐振峰对准“开式腔”工作模式的谐振曲线,如图4.再增大耦合元件与试样的间距,直至“开式腔”谐振频率不再变化为止. 图4 4.5.5调节标准精密衰减器至a加3.01dB的刻度位置,使“开式腔”谐振峰值衰减到半功率点,确定半功率点位置,见图5(a). 回复标准精密衰减器到a.(dB)位置,用波长计测定谐振频率f.(MHz),和半功率点带宽△fMHz,示波器图形如图5(b). 图5 4.5.6将试样倒置,重复测试步骤4.5.3至4.5.5. 4.5.7以试样正、反两次放置所测数据的算术平均值作为最后测试结果. 4.5.8测试原始记录表格见附录B. 5计算公式 5.1试样尺寸计算 根据试样介电常数e'的大致范围、测试频率和工作模式,由下列公式确定试样尺寸: (4) (5)

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