GB/T 14114-1993半导体集成电路电压频率和频率电压转换器测试方法的基本原理.pdf

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中华人民共和国国家标准

GB/T 14114-93

半导体集成电路电压/频率和频率/电压 转换器测试方法的基本原理

General principles ofmeasuringmethods ofV/FandF/Vconvertersforsemiconductorintegratedcircuits

国家技术监督局 发布

中华人民共和国国家标准

半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 GB/T 14114-93

测试方法的基本原理

General principles of measuring methods of V/Fand F/V converters for semiconductor integrated circuits

1主题内客与适用范围

本标准规定了半导体集成电路电压/颗率和频率/电压转换器(以下简称器件)避试方法的基本原理.

本标准适用于半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器的电参数测试.

2引用标准

GB3439半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理GB3442半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理GB3834半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

3总的要求

3.1若无特殊说明,测试期间,环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定.3.2测试期间,应整免外界干扰对测试精度的影响,测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定.3.3测试期间.施于被测试器件的电参量应符合器件详细规范的规定.3.4被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件. 3-5若有要求时,应按器件详细规范规定的顺序接通电源.3.6测试期间,被测器件应按器件详细规范的现定连接外接网络.3.7测试期间,被测器件应避免出现自激现象.3.8若电参数值是由几步测试的结果经计算面确定时:这些测试的时间间隔应尽可能短.

4电压/频率转换器参数测试

4.1失调误差Eo4.1.1目的测试器件输出频率为规定的起始值时实际输入电压与理想输入电压之差.4.1.2测试原理图测试原理图如图1所示.

4.1.3测试条件

测试明间,下列测试条件应符合器件详细规范的现定;

a. 环境温度:b. 外接网络(定频、定标网络); 电源电压;e. d. 起始输出颜率:e. 满量程输入电压:

f.满量程输出频率.

4.1.4测试程序

4.1.4.1按规定条件将被测器件接入测试系统中.

4.1.4.2接通规定的电源电压.

4.1.4.3调节直流输入电压,使被测器件输出率达到规定的起始值fo,读出这时的输人电压V.

4.1.4.4按式(1)计算对应于起始输出额率fo的理想输入电压Vn

(1)

式中:Vm-满量程输人电压;

fno-满量程输出率,

4.1.4.5按式(2)计算失调误差Eo:

(2)

4.2失调误差温度系数g0

4.2-1目的

在规定的温度范围内,测试单位温度变化引起的器件失调误差的变化.

4.2.2测试原理图

测试原理图如图2所示.

图2

4.2.3测试条件

测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定:

环境退度范围:b. 电源电压: 外接网络(定、定标网络):d. 起始输出频率;满量程输入电压;

f.满量程输出频率.

4.2.4测试程序

4.2.4.1将被测器件置于规定的环境温度T,按规定条件接入测试系统中.

4.2.4.2接通规定的电源电压,待稳定后按4.1.4.3~4.1.4.4条的程序测出T:下的失调误差Eo(T ).

4.2-4.3将被测器件置于另一规定温度T,待稳定后按4.1.4.3~4.1.4.4条的程序测出T:下的失 调误差Eo(T).

4.2.4.4按式(3)计算失调误差温度系数ag01

(3)

4.3增益误差EG

4.3-1目的

测试器件实际满量程输出频率与规定的满量程输出频率的相对偏差.

4.3.2测试原理图

测试原理图如图3所示.

图3

4.3.3测试条件

测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定:

a- 环境温度: 电源电压:b. 外接网络(定额、定标网络,失调误差调节网络);d 输出逻辑电平:满量程输入电压;

f.满量程输出频率.

4.3.4测试程序

4.3.4.1按规定条件将被测器件接人测试系统中.

4.3.4.2接通规定的电源电压.

4.3.4.3调节失调误差,使失调误差为零.

4.3.4.4调节直流输入电压,使被测器件输入电压为满量程电压Vm,测出这时的输出频率fm0

4.3.4.5按式(4)计算增益误差Ec:

式中:fo满量程输出频率.

4.4增益误差温度系数c

4.4.1日的

在规定的温度范围内,测试单位温度变化引起的器件增益误差的变化.

4.4-2测试原理图

测试原理图如图4所示.

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