中华人民共和国国家标准
GB/T31359-2015
半导体激光器测试方法
Test methods of semiconductor lasers
中国国家标准化管理委员会 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布
目 次
前言1范围2规范性引用文件 3术语、定义和符号3.1术语和定义3.2符号和单位4测试条件及要求4.1环境要求4.2测试仅器及计量要求 4.3激光安全要求4.4被测产品正常工作要求4.5其他要求5测试方法5.1输出光功率测试 5.2平均功率测试峰值功率测试5 4 脉冲能量测试5.5 输出功率不稳定度测试 输出能量不稳定度测试5.6 5.7 工作电流5.8 工作电压 105.9 闵值电流 115.10 5.11 斜率效率 电光转换效率 125.12 波长-温度漂移系数 135.13 峰值波长 155.14 谱宽度 165 16 5.15 中心波长 偏振度 16 175.17 重复频率 185.18 脉冲宽度 195.19 光强分布 195.21 5.20 快轴发散角和慢轴发散角 光束宽度 235.22 边模抑制比 255.23 截止频率 26
前言
本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草.
本标准由中国机械工业联合会提出，
本标准由全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会（SAC/TC284）归口，
本标准起草单位：西安炬光科技有限公司、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院半导体研究所、北京国科世纪激光技术有限公司、武汉华工正源光子技术有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所.
本标准主要起草人：刘兴胜、赵卫、许国栋、张艳春、杨军红、马晓宇、唐琦、吴迪、王贞福、王警卫、谢彦虎、王家赞、李小宁、史俊红、陈海蓉、仲莉、石朝辉、张恩、许海明、张国新.
半导体激光器测试方法
1范围
本标准规定了半导体激光器主要光电参数的测试方法.本标准适用于半导体激光器主要光电参数的测试，半导体激光器组件可参考执行.
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的，凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件.凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括的修改单）适用于本文件.
GB7247.1激光产品的安全第1部分：设备分类、要求GB/T15313激光术语 GB/T10320激光设备和设施的电气安全GB/T31358-2015半导体激光器总规范
3术语、定义和符号
3.1术语和定义
GB/T15313、GB/T31358-2015界定的术语和定义适用于本文件.
3.2符号和单位
表1所列的符号和单位适用于本文件.
表1符号和单位
术语 符号 单位输出光功率 P mW.w平均功率 P mw.w脉冲能量 峰值功率 E JmJ输出功率不稳定度 S P. mW.W输出能量不稳定度 So峰值波长 a nm谱宽度 nm中心波长 a. nm工作电流 mA-A工作电压 V AAm
表1（续）
术语 符号 单位值电流 mA-A斜率效率 3s W/A波长-温度漂移系数 电光转换效率 nm/K nm/C偏振度 P.脉冲宽度 r s*s*s重复频率 f Hz快轴发散角 (°)慢轴发散角 05 ()光束宽度 mm边模押制比 SMSR截止频率 f. Hz
4测试条件及要求
4.1环境要求
除非另有规定，测试环境条件应符合以下要求：
a)气压;86 kPa~106 kPa;b）环境温度：20℃~25℃；c） 相对湿度：30%~70%；d）环境洁净度；按照产品详细规范规定： 无光噪声和明显气流：e) f) 屏蔽电磁辐射（适用时，按照产品详细规范规定）；g）防止机械振动：h）防静电（适用时）.
4.2测试仪器及计量要求
除非另有规定，测试仪器应满足以下要求：
a）测试仪器量程满足被测半导体激光器参数范围；c）符合计量检定要求，且在计量有效期内. b）精度范围至少优于被测指标误差4倍以上，一般情况下数字仪表示值至少3位有效数字；
4.3激光安全要求
a）半导体激光器的辅射安全和防护应符合GB7247.1的规定； b）半导体激光器配套的电系统应符合GB/T10320的规定.
半导体激光器的安全要求应符合以下规定：
