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GB/T 31967.3-2025 稀土永磁材料物理性能测试方法 第3部分:电阻率的测试.pdf

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中华人民共和国国家标准

GB/T31967.3-2025

稀土永磁材料物理性能测试方法 第3部分:电阻率的测试

Test methods for physical property of rare earth permanent magnetic materialsPart 3:Determination ofresistivity

国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布

前言

本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则>的规定起草.

本文件为GB/T31967的第3部分,GB/T31967已经发布了以下部分:

第1部分:磁通温度特性的测定;

第2部分:抗弯强度和断裂韧度的测定:

一第3部分:电阻率的测试.

请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别专利的责任.

本文件由全国稀土标准化技术委员会(SAC/TC229)提出并归口.

本文件起草单位:包头稀土研究院、中国计量科学研究院、福建省金龙稀土般份有限公司、安徽大地新材料股份有限公司、北京中科三环高技术股份有限公司、包头金山磁材有限公司、包头天和磁材科技股份有限公司、包头市英思特稀磁新材料股份有限公司、宁波韵升股份有限公司、包头市检验检测中心、中国科学院宁波材料技术与工程研究所、赣州市综合检验检测院、国合通用测试评价认证股份公司、联合汽车电子有限公司、浙江大学、虔东稀土集团股份有限公司、宁波科田磁业有限公司、有研稀土 (荣成)有限公司、杭州科德磁业有限公司、杭州美磁科技有限公司、杭州象限科技有限公司、天津三环乐喜新材料有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司.

本文件主要起草人:任少卿、侯瑞芬、陈治安、王轩、张久磊、刘友好、黄秀莲、黄清芳、王瑜、康政东、董改华、李玲玲、贺建、魏星、孙额莉、曾纪平、卢硕、陈益辉、严密、金佳莹、李志强、温斌、张公军、曹朔豪、严长江、刘壮、刘玉华、康佳、孙小钧、王占国、马春茹、冯京、朱泽成、肖方飞、孙彩娜、戴欣、谢健明、苑潇、 占礼春、贾生礼、唐桂萍、刘伍利、宋冠禹、申立汉、武岑阳.

引言

稀土永磁材料是最重要的稀土功能材料之一,因其出色的磁性能被广泛应用于新能源汽车、风力发电、家用电器、兵器工业、航空航天等领域.GB/T31967旨在通过试验研究建立一套完善、切实可行、围以及各分析方法之间的技术独立性等方面的原因,GB/T31967由三个部分构成. 且适应于稀土永磁材料应用和贸易需求的物理性能测试的方法标准.限于文件篇幅、使用需求、使用范

第1部分:磁通温度特性的测定.目的在于确定各类稀土永磁材料开路可逆磁通温度特性的测量装置及步骤.一第2部分:抗弯强度和断裂韧度的测定.目的在于确定各类稀土永磁材料抗弯强度和断裂韧一第3部分:电阻率的测试,目的在于为稀土永磁材料提供完善可靠的电阻率测试方案. 度的测量装置、试样尺寸及测试步骤.

本文件选取与电阻率测量相关因素(面积、厚度、外界温度、表面光滑度)进行试验,以便更加准确地测量稀土永磁材料的电阻率,为下游企业在选用稀土永磁材料的时候提供更准确的性能指标,以便正确评估其在应用中不同工况的使用状况,进面推动行业上下游的健康发展.

稀土永磁材料物理性能测试方法 第3部分:电阻率的测试

1范围

本文件描述了稀土永磁材料电阻率的测试方法,包括凯尔文法、范德堡法和四探针法,

永磁材料垂直于易磁化方向、平行于易磁化方向或与易磁化方向成其他角度(指测试电流方向与易磁化 本文件适用于烧结钕铁硼永磁材料和烧结钻永磁材料电阻率的测试,凯尔文法适用于测试稀土方向夹角)的电阻率,范德堡法适用于测试稀土永磁材料垂直于易磁化方向的电阻率,尤其适用于测试薄片状晶界扩散材料的电阻率.四探针法适用于测试稀土永磁材料永磁材料垂直于易磁化方向的电阻率.

本文件不适用于粘接稀土永磁材料电阻率的测试.

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款.其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件:不注日期的引用文件,其最新版本(包括的修改单)适用于本文件.

GB/T2900.60电工术语电磁学GB/T8170数值修约规则与极限数值的表示和判定JJF1059.1测量不确定度的评定与表示JJG508四探针电阻率测试仪检定规程SJ/T10315四探针探头通用技术条件

3术语和定义

GB/T2900.60界定的以及下列术语和定义适用于本文件.

电压端子voltage terminal

用于检测待测样品上任意两点之间电势差的针状探针或柱状、刀口状夹具.

3.2电流端子current terminal

用于给样品加载电流的针状探针或夹具.

3.3探针间距distance of probes接触样品表面的任意两个最邻近探针针尖之间的距离.

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