GB/T 31417-2015 等离子显示器用荧光粉.pdf

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GB 中华人民共和国国家标准 GB/T31417-2015
等离子显示器用荧光粉 Phosphorsfor plasma display panel
2015-05-15发布2016-01-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布 中国国家标准化管理委员会
GB/T 31417-2015
目次
前言 1范围.. 2规范性引用文件 3术语和定义 4要求.. 4.1化学组成 4.22性能指标 4.3外观 5试验方法 5.11发光特性 5.2热劣化特性 5.3真空紫外劣化特性 5.4余辉时间 5.5粒度分布 5.6密度 5.7外观检验 6检验规则 6.1检查和验收 6.2组批规则 6.3检验项目 6.4取样和制样 6.5检验结果判定 7标志、包装、运输和储存 7.1标志 7.2包装 7.3运输 7.4储存 7.5质量保证书 附录A(规范性附录))等离子显示器用荧光粉试验方法发光特性的测定 附录B(规范性附录))等离子显示器用荧光粉试验方法热劣化特性的测定
附录D(规范性附录)等离子显示器用荧光粉试验方法余辉特性的测定.
GB/T 31417-2015
等离子显示器用荧光粉
1范围 本标准规定了等离子显示器(PDP)用荧光粉的术语和定义、要求、试验方法、检验规则及标志、包 装、运输和储存。

本标准适用于等离子显示器(PDP)用荧光粉。

2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。

凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。

凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括的修改单)适用于本文件。

GB/T191-2008包装储运图示标志 GB/T4070荧光粉性能试验方法 GB/T5838荧光粉名词术语 GB/T15676稀土术语
3术语和定义 GB/T5838和GB/T15676界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

3.1 热劣化thermal deterioration 荧光粉在高温焙烧后亮度逐渐降低或色度参数改变的现象。

3.2 真空紫外劣化VUVdeterioration 在真空紫外147nm、172nm短波长照射下,亮度随时间逐渐降低或色度参数随时间而改变的 现象。

4要求 4.1化学组成 参考化学组成见表1。

表1 合载G37-R1 G37-R2 G37-R3 G37-G1 G37-G3 G37-B1 化学组成(Y,Gd)BOs:EuY(P,V)O:Eu(Y,Gd);O:EuZnSiO:Mnn(Y,Gd)Al O:CeBaMgAlO:Eu
4.2性能指标 主要性能指标应符合表2的规定。

如需方对产品有特殊要求,由供需双方协商。

GB/T31417-2015
表2 牌号G37-R1 G37-R2 G37-R3 G37-G1 G37-G3 G37-B1 激发波长x147 nm 光谱性能 发射主峰波长范围A869619±3611±3525±5537±5450±5 nm 相对亮度/%由供需双方协商 发光特性0.647±0.005|0.668±0.0050.660±0.00550.257±0.005|0.406±0.005|0.147±0.005 色品坐标 y0.352±0.005|0.332±0.005|0.340±0.005|0.698±0.005|0.565±0.005|0.053±0.005 B/%<1<1<<1 劣化特性x01000±0.001 001000±0.001 001000±0.001 0
y±0.001 0±0.001 001000±0.001 001000±0.002 0 密度5.1±0.15.1±0.15.2±0.14.2±0.14.4±0.13.8±0.1 g/cm² 余辉时间<10<4.5<3.1<5<1<1 ms 中心粒径dso2.3±0.52.6±0.52.5±0.52.3±0.53.2±0.53.0±0.5 μm 粒度分布do1.7±0.51.9±0.51.6±0.51.7±0.52.1±0.51.9±0.5
μm doo3.1±0.53.8±0.52.9±0.53.6±0.54.2±0.54.0±0.5 μm 注:发光特性、劣化特性、粒度分布只给出了参考值。

4.3外观 在室内日光照射下应洁净,无目视可见的杂物。

5试验方法 5.1发光特性 发光特性的测定按附录A的规定进行。

5.2热劣化特性 热劣化特性的测定按附录B的规定进行。

5.3真空紫外劣化特性 真空紫外劣化特性的测定按附录C的规定进行。

2
GB/T 31417-2015
5.4余辉时间 余辉时间的测定按附录D的规定进行。

5.5粒度分布 粒度分布的测定按GB/T14634.4一2002的规定进行。

5.6密度...

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