GB/T 5195.15-2017萤石 钙、铝、硅、磷、硫、钾、铁、钡、铅含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法.pdf

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中华人民共和国国家标准

GB/T 5195.15-2017

萤石钙、铝、硅、磷、硫、 钾、铁、钡、铅含量测定 波长色散X射线荧光光谱法

FluorsparDetermination of calcium aluminum silicon phosphorus, sulfur potassium iron,barium and lead content-Wavelength dispersive X-rayfluorescence spectrometricmethod

中国国家标准化管理委员会 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布

前言

GB/T5195分为16个部分:

-第1部分:董石氟化钙含量的测定EDTA滴定法和蒸馏-电位滴定法;第2部分:萤石碳酸盐含量的测定;第4部分:萤石硫化物含量的测定碘量法; 第3部分:董石105C质损量的测定重量法;第5部分:董石总硫含量的测定管式炉燃烧-碘酸钾滴定法:一第6部分:萤石磷含量的测定分光光度法;第7部分:萤石锌含量的测定原子吸收光谱法: -第8部分:董石二氧化硅含量的测定;第9部分:董石灼烧减量的测定重量法;第10部分:萤石铁含量的测定邻二氮杂菲分光光度法:一第11部分:萤石锰含量的测定高碘酸盐分光光度法; 第12部分:萤石砷含量的测定原子荧光光谱法;第13部分:董石铝含量的测定EDTA滴定法:第14部分:萤石镁含量的测定火焰原子吸收光谱法;-第15部分:萤石钙、铝、硅、磷、硫、钾、铁、钡、铅含量的测定波长色散X射线荧光光谱法;第16部分:董石硅、铝、铁、钾、镁和钛含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法. 本部分为GB/T5195的第15部分.本部分按照GB/T1.1-2009给出的规则起草.本部分由中国钢铁工业协会提出.本部分由全国钢标准化技术委员会(SAC/TC183)归口.本部分主要起草人:张建波、蔡曹盛、谢健梅、王振新、金献忠、林力、郑琳、卢春生.

证集团宁波有限公司. 本部分起草单位:中华人民共和国宁波出人境检验检疫局、冶金工业信息标准研究院、中国检验认

萤石钙、铝、硅、磷、硫、 钾、铁、钡、铅含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法

警告一一使用本部分的人员应有正规实验室工作的实践经验.本部分并未指出可能的安全问题,使用者有责任采取适当的安全和健康措施,并保证符合国家有关法规规定的条件.

1范围

GB/T5195的本部分规定了用波长色散X射线荧光光谱测定钙、铝、硅、磷、硫、钾、铁、钡和铅含量的方法.

本部分适用于董石中钙、铝、硅、磷、硫、钾、铁、钡、铅的测定,测定范围见表1.

表1测定范围

元素 测定范围(质量分数)/%Ca 30 00 ~51 00AI 0 020~1 95Si 0 30~16 90P 0 005 ~0 080 005 ~1 75K 0 020 ~11 00Fe 0 040 ~1 64Ba ²~0z0²0Pb 0 005 ~0 18

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的.凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件.凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括的修改单)适用于本文件.

GB/T6682分析实验室用水规格和试验方法GB/T8170数值修约规则与极限数值的表示和判定GB/T16597冶金产品分析方法X射线荧光光谱法通则 GB/T22564董石取样和制样

3原理

粉末样品用四硼酸锂和偏硼酸锂的混合熔剂按一定比例熔铸成适合于X射线荧光光谱仪测量

试料熔片.在选定的仪器测量条件下测量试料熔片中待测元素特征谱线的荧光X射线强度,根据校准曲线或方程式来计算,获得样品中待测成分的含量.

4试剂与材料

除非另有说明,仅使用认可的分析纯试剂和符合GB/T6682的规定的二级水或与其纯度相当的水.4.1四硼酸锂和偏硼酸锂的混合熔剂,优级纯,推荐使用四硼酸锂和偏硼酸锂质量比为12:22的混合4.2硝酸锂,使用前在105℃±5℃下干燥2h. 熔剂,在650℃下灼烧4h后置于干燥器中.4.3旗化铵.4.4硝酸锂溶液,称取适量的硝酸锂(见4.2)配制成浓度为220mg/mL的溶液,置于棕色瓶中.4.5碘化铵溶液,称取适量的劈化铵(见4.3)配制成浓度为40mg/mL的溶液,置于棕色瓶中.

5仅器

5.1波长色散X射线荧光光谱仪,符合GB/T16597规定.5.2熔样Ⅲ,推荐用铂合金(95%Pt5%Au)制成,容积大于30mL.5.3铸型模,推荐用铂合金(95%Pt十5%Au)制成,要求底部内表面平整光滑. 注:熔样Ⅲ和铸型模可合二为一.5.4熔样炉,能加热到1050℃,控温精度为土5℃.5.5分析天平精度0.1mg.

6取样和制样

按照GB/T22564进行取样和制样,试样粒度一般应小于100μm,并在105℃C±5℃烘2h后置于干燥器中.

7分析步骤

7.1测量次数

对于同一试样,至少进行两次独立测定.

7.2试料熔融

准确称取5.00g四硼酸锂和偏硼酸锂的混合熔剂(4.1)和1.00g试样(6)于熔样Ⅲ中,均精确至0.2mg,混匀后加人1mL硝酸锂溶液(4.4)和1mL碘化铵溶液(4.5),在电炉上烘干,约10min.

注:可根据铸型模的大小调整样品和熔剂的质量,但样品和熔剂的质量比保持1:5.

上挂有小熔珠,需摇动熔样Ⅲ将其落人熔体中.熔融10min后,把熔融物倒人已预热3min以上的铸 试料和熔剂在1000℃一起熔融,不时旋转和/或摇动,直至完全熔解且熔体均匀.如果熔样Ⅲ壁型模中,取出,冷却.

也可用自动熔样炉进行试料熔融,熔融过程中摇动和转动熔样Ⅲ,制成的玻璃片在熔样Ⅲ中或倒人铸型模中成型.

试料熔片应是均匀的玻璃体,表面平整光滑,无气泡和未熔小颗粒等夹杂,否则应重新制备.

7.3校准曲线的制作

7.3.1校准样品

选择有一定浓度和梯度范围的系列标准样品或有证标准物质作为校准样品,并确保每个测量元素的给出浓度的标准物质数量应大于或等于该元素校准曲线参数个数的3倍,校准曲线参数是指校准曲线的截距、斜率、经验α影响系数和谱线重叠系数等.

注:当铅和银的浓度梯度和个数小于6时,可在已知铅和的浓度标准样品中加人适量的铅标准溶液(硝酸介质) 和硫酸银配制成合适的新校准样品,以增加校准曲线中校准样品的个数.

7.3.2测量条件

见附录A,不同仪器可根据实际情况选择合适的测量条件,包括背景校正方法和测量时间,各元素的X 各元素特征谱线的测量条件通过优化获得,通常应测试3个~4个不同浓度的样品.测量条件参射线荧光强度应不大于300kcps.

7.3.3校准方程

可根据实际情况选择合适的校准方程,如理论影响系数法、基本参数法、经验α影响系数法等.

但应注意校准方程参数的个数,每增加一个参数,应增加三个校准样品以确保该参数的可靠性.校准方程中各测量元素除Ca以CaF:形式表示外,其他元素以氧化物形式表示.

7.4测量

7.4.1漂移校正

两点校正,校正的间隔时间可根据仪器的稳定性决定. 选择合适的校准样品熔片或试料熔片作为漂移校正熔片进行仅器的漂移校正.可采用单点校正或

7.4.2试料熔片测量

先进行漂移校正,再进行试料熔片测定. 预热仪器直至仅器稳定后,按选定的测量条件测定试料熔片,若进行仅器漂移校正,仪器稳定后,

8结果计算与表示

8.1结果计算

根据测出的试料熔片中各元素特征谱线的X射线荧光强度,按校准方程计算出各元素的含量.

8.2结果表示

试样的最终结果是可接受分析值的平均值,或按附录B中步骤计算.

分析结果按GB/T8170的规定进行修约,对于含量在0.1%及以上的成分,计算结果表示到两位小数:含量在0.1%以下的成分,计算结果表示到三位小数.

测定元素与化合物的换算关系参见附录C.

9精密度

2016年由八个实验室对六个水平的试样进行精密度试验,根据实验室数据得到本标准的重复性限

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