中华人民共和国国家标准
GB/T 15972.55-2009
光纤试验方法规范 第55部分：环境性能的测量方法和 试验程序氢老化
Specifications for optical fibre test methodsPart 55:Measurementmethods and test procedures for environmental characteristics-Hydrogen aging
中国国家标准化管理委员会 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布
前言
GB/T15972《光纤试验方法规范》由若干部分组成：
--第10部分~第19部分：测量方法和试验程序总则（对应IEC60793-1-10~IEC60793-1-19；代替 GB/T 15972. 1-1998) ;第20部分~第29部分：尺寸参数的测量方法和试验程序（对应IEC60793-1-20~IEC60793-1-29;代替GB/T 15972.2-1998);-第30部分~第39部分：机械性能的测量方法和试验程序（对应IEC60793-1-30~1EC60793- 1-39：代替 GB/T 15972. 3-1998);-第40部分~第49部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序（对应IEC60793-1-40~IEC 60793-1-49:f代替 GB/T 15972. 4-1998);-第50部分~第59部分：环境性能的测量方法和试验程序（对应IEC60793-1-50~1EC60793-1-59;代替 GB/T 15972.5-1998).
其中GB/T15972.5×由以下部分组成：
一第50部分：环境性能的测量方法和试验程序恒定湿热：-第51部分：环境性能的测量方法和试验程序干热；一第52部分：环境性能的测量方法和试验程序温度循环； 第53部分：环境性能的测量方法和试验程序浸水；一第54部分：环境性能的测量方法和试验程序伽玛辐照；一第55部分：环境性能的测量方法和试验程序氢老化.
本部分为GB/T15972的第55部分.本部分中基准试验方法主要参考了IEC60793-2-50：2008定的.
本部分的附录A为资料性附录.
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出.
本部分由中国通信标准化协会归口.
本部分起草单位：武汉邮电科学研究院、长飞光纤光缆有限公司.
本部分主要起草人：陈永诗、李海清、李婧、刘聘、程淑玲.
光纤试验方法规范 第55部分：环境性能的测量方法和 试验程序氢老化
1范围
GB/T15972的本部分规定了光纤在给定的含氢环境中进行氢老化试验的方法和试验程序.
本部分主要适用于评估GB/T15972.10-2008中规定的B1.3类波长段扩展的非色散位移单模光纤的氢老化性能，也可用于评估B4类单模光纤的氢老化性能.
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T15972的本部分的引用而成为本部分的条款.凡是注日期的引用文件，其随后的修改单（不包括微误的内容）或修订版均不适用于本部分，然面，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本，凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本 部分.
GB/T9771.3-2008通信用单模光纤第3部分：波长段扩展的非色散位移单模光纤特性
GB/T15972.10-2008光纤试验方法规范第10部分：测量方法和试验程序总则(IEC 60793-11:2002 Optical fibres-Part 1-1: Measurement methods and test procedures-Generaland guidline MOD)
GB/T15972.40-2008光纤试验方法规范第40部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序衰减(IEC 60793-1-40;2001 Optical fibres-Part 1-40: Measurement methods and test proceduresAttenuation MOD)
3试验装置
3.1试验箱
试验装置包括一个环境试验箱.试验箱的大小应能够容纳试验样品，不得使试样受到直接辐射热，它能维持规定的温度在规定的容差内，可用空气循环维持试验箱内的均匀条件.
3.2光纤容器
容器大小应能够容纳试验光纤样品，它能维持所需的含氢环境.容器应置于环境试验箱内，且容器材料传热性能能保证容器内的光纤样品与环境试验箱的设定温度达到一致.
3.3其他装置
完成试验和测量所必须的其他装置，如装有（H：He）（氢气和氮气）或（H：N）（氢气和氮气）混合气体瓶等.
4试样和试样制备
为达到所要求的衰减测量重复性，单模光纤试样长度应至少为2000m，暴露在试验箱外面的光纤应尽可能短，如果暴露在外面的部分超过试样总长度的10%，则宜记录说明.
建议将光纤试样松绕，复绕和排线应对1310nm波长处衰减系数无影响，复绕张力宜不大于0.3N. 在试样的准备过程中不应有在测量环境下给光纤造成危害的影响.除非在详细规范中另有规定，将试样水平放置，为避免任何宏弯影响，烧图直径应大于150mm.
