ICS33.180.10 CCS M 33 GB 中华人民共和国国家标准化指导性技术文件 GB/Z41287.2-2022 通信用建筑物引入光缆 第2部分：自承式架空用引入光缆 Optical fibre telemunication cables for use in premises cabling- Part 2:Optical fibre cables for self-supporting aerial application 2022-03-09发布 2022-07-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布 GB/Z41287.2-2022 目次 前言 I 引言 Ⅱ 1范围 1 2规范性引用文件 1 3术语和定义 2 4分类 2 5结构和材料 2 6性能要求和试验方法 GB/Z41287.2—2022 前言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规 定起草. 本文件是GB/Z41287《通信用建筑物引入光缆》的第2部分.GB/Z41287已经发布了以下部分： —第1部分：管道和直埋用引人光缆； ——第2部分：自承式架空用引入光缆. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别专利的责任. 本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出并归口. 本文件起草单位：成都大唐线缆有限公司、成都泰瑞通信设备检测有限公司、四川汇源光通信有限 公司、长飞光纤光缆股份有限公司、中国信息通信研究院、江苏亨通光电股份有限公司、烽火科技集团有 限公司、江苏俊知技术有限公司、成都亨通光通信有限公司、江苏永鼎股份有限公司、电信科学技术研究 院有限公司、江苏南方通信科技有限公司. 本文件主要起草人：黄堃、彭媛、薛梦驰、刘泰、吕捷、许江波、宋志佗、时彬、罗毅、熊壮、刘湘荣、 王耀明、陈晓红、王则民、袁凡、李吉超、高华、黄正欧、郭志宏. I ...

ICS35.240.99 CCS L 67 GB 中华人民共和国国家标准化指导性技术文件 GB/Z41284-2022 信息无障碍 网站设计无障碍评级测试方法 Information accessibility-Testing specification for web content accessibility evaluation 2022-03-09发布 2022-10-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布 GB/Z41284-2022 目次 前言 I 1范围 1 2规范性引用文件1 3术语和定义、缩略语 1 3.1术语和定义 1 3.2缩略语4 4可感知性测试 .4 4.1非文本处理测试4 4.2文本处理测试 6 4.3多媒体处理测试 .8 5可操作性测试10 5.1网页操作控制测试 10 5.2信息输入处理测试14 6可理解性测试 17 6.1信息内容处理测试17 6.2网页引导机制测试 19 6.3帮助信息测试 20 7兼容性测试 20 7.1无障碍网页兼容性测试 20 7.2用户交互兼容性测试21 GB/Z41284-2022 前 言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别专利的责任. 本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出. 本文件由全国通信标准化技术委员会(TC485)归口. 本文件起草单位：中国信息通信研究院、中国残疾人联合会信息中心、中国盲人协会、中国聋人协 会、上海市政府门户网站管理中心、中国盲文出版社、浙江大学、中国互联网协会、中国老龄协会、哈尔滨 亿时代数码科技开发有限公司、浙大网新科技股份有限公司、上海网达软件股份有限公司. 本文件主要起草人：吴英桦、崔慧萍、孙永革、吴玉韶、杨昆、何川、陈晓海、李伟洪、杨洋、陈纯、 覃育梅、朱双六、富明慧、卜佳俊、陈威钢、黄畅、李藜、朱清毅、绍磊、徐洁. I ...

ICS31.180 L30 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T9491—2021 代替GB/T9491一2002 锡焊用助焊剂 Flux for tin soldering 2021-12-31发布 2022-07-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布 GB/T9491—2021 目 次 前言 Ⅲ 1范围 2规范性引用文件 1 3术语和定义 .1 4分类 1 5技术要求3 6试验方法 5 7检验规则 22 8包装、标识、运输和储存 23 SAC GB/T9491—2021 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 本标准代替GB/T9491一2002《锡焊用液态焊剂（松香型）》.与GB/T9491一2002相比，除编辑性 修改外主要技术变化如下： —一增加了助焊剂的分类，如松香型、树脂型、有机物型、无机物型，并按形态分类液态(L)、固态 (S)、膏状(P)(见第4章，2002年版的第3章)； —增加了黏度的要求及试验方法（见5.4 6.5）； —增加了电化学迁移(ECM)的要求及试验方法（见5.13 6.14）； —增加了PCB板离子残留的要求及试验方法（见5.15 6.16）； 一一增加了飞溅的要求及试验方法（见5.16 6.17）； ——删除了长霉要求及试验方法（见2002年版的5.13）. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利，本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出. 本标准由全国印制电路标准化技术委员会(SAC/TC47)归口. 本标准起草单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院、深圳市唯特偶新材料股份有限公司、北 京朝铂航科技有限公司、深圳市同方电子新材料有限公司、广东中实金属有限公司、东莞永安科技有限 公司、昆山成利焊锡制造有限公司、深圳市上煌实业有限公司、北京市电子电器协会、北京市新立机械有 限责任公司. 本标准主要起草人：刘筠、张鸣玲、张理、王香、唐欣、杨嘉骥、孟昭辉、肖德华、方喜波、梁静珊、 吴国齐、苏传猛、胡玉、孙玉欣、赵永江、丁飞. 本标准所代替标准的历次版本发布情况为： —GB/T9491—2002. ...

ICS33.100.20 CCS L06 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T9254.2-2021 代替GB/T9383-2008 GB/T17618-2015 信息技术设备、多媒体设备和接收机 电磁兼容第2部分：抗扰度要求 Information technology equipment multimedia equipment and receivers-— Electromagnetic patibility-Part 2:Immunity requirements (CISPR 35:2016 Electromagnetic patibility of multimedia equipment- Immunity requirements MOD) 2021-12-31发布 2022-07-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会 GB/T9254.2-2021 目 次 前言 引言 1范围 2规范性引用文件 1 3术语、定义和缩略语 2 3.1术语和定义 2 3.2缩略语 5 4试验项目要求 7 4.1一般要求 7 4.2具体要求 8 5抗扰度要求 10 6试验文档 14 6.1试验报告 14 6.2制造商给用户的建议 14 7试验配置 14 8性能判据15 8.1概述 15 8.2性能判据A 15 8.3性能判据B 15 8.4性能判据C 16 9标准符合性 16 10测量不确定度 16 附录A(规范性)广播接收功能 17 A.1概述 17 A.2适用性 17 A.3运行模式 17 A.4补充的试验等级和性能判据 19 附录B(规范性)打印功能 20 B.1适用性 20 B.2运行模式 20 B.3性能判据 20 附录C(规范性)扫描功能 22 C.1适用性 22 C.2运行模式 22 22 I ...

ICS33.100.10 CCS L06 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T9254.1—2021 代替GB/T92542008 GB/T13837-2012 信息技术设备、多媒体设备和接收机 电磁兼容第1部分：发射要求 Information technology equipment multimedia equipment and receivers- Electromagnetic patibility-Part 1:Emission requirements (CISPR 32:2015 Electromagnetic patibility of multimedia equipment- Emission requirements MOD) 2021-12-31发布 2022-07-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会 GB/T9254.1-2021 目 次 前言 Ⅲ 引言 4 1范围 2规范性引用文件 3术语、定义和缩略语 2 3.1术语和定义 2 3.2缩略语 6 4设备的分级 7 5要求 6测量 8 6.1概述 8 6.2宿主系统和模块化EUT .....8 6.3测量程序 ..9 7设备文件 10 8适用性 10 9试验报告 10 10符合性 11 11测量不确定度 11 附录A(规范性)要求 12 A.1概述 12 A.2辐射发射要求 13 A.3传导发射要求 16 附录B(规范性)测量期间EUT运行和试验信号的规定 21 B.1概述 21 B.2EUT端口的运行 21 附录C(规范性)测量程序、仪器和辅助信息 25 C.1概述 25 C.2仪器和辅助信息 25 C.3通用测量程序 27 C.4相关测量程序 31 附录D(规范性)EUT、本地AE以及相关电缆的布置 39 D.1综述 39 D.2传导发射测量时EUT的相关条件 .43 D.3EUT相关辐射发射测量要求 .45 I GB/T9254.1-2021 附录E(资料性)预扫描测量 53 附录F(资料性)试验报告的内容摘要 54 附录G(资料性)C.4.1.1规定的测量程序的支持信息 56 G.1不对称人工网络示例电路原理图 56 G.2适用于有线网络端口发射测量的基本原理和程序 65 附录H(规范性)家用卫星接收系统室外单元测量支持...

ICS03.220.20:01.040.03 CCS R 10 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T8226-2023 代替GB/T82262008 道路运输术语 Road transport terminology 2023-05-23发布 2023-05-23实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布 GB/T8226-2023 目 次 前言 Ⅲ 1范围 1 2规范性引用文件 1 3基础术语 1 4旅客运输 3 5货物运输 7 6道路运输站（场）14 7运输装备 15 8装卸 .19 9汽车维修 20 10机动车驾驶员培训 21 11运输质量 21 12车辆基本状况和营运绩效指标 25 13汽车运价 27 14道路运输和道路运输相关业务经营者及从业人员 31 15道路运输行政管理 31 参考文献 .34 汉语拼音索引 35 英文对应词索引 40 I GB/T8226-2023 前 言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草. 本文件代替GB/T8226一2008《道路运输术语》，与GB/T8226一2008相比，除结构调整和编辑性 改动外，主要技术变化如下： a)将“道路运输”更改为“基础术语”（见第3章，2008年版的2.1）； b)删除了运输形式、生产过程运输、流通过程运输、指令性运输、共营运输、直达运输、出租客运、 公交客运和营运线路的术语和定义（见2008年版的2.1.3、2.1.3.1、2.1.3.2、2.1.3.3、2.1.3.4、 2.1.3.7、2.1.3.13、2.1.3.15和2.1.4.1)； )更改了承运人、承运、道路运输相关业务、班车客运、包车客运和旅游客运的定义（见3.1.5、 3.1.6、3.2.4、4.2.2、4.2.3、4.2.4、 2008年版的2.3.3.5、2.3.3.7、2.1.2.3、2.1.3.8、2.1.3.12和 2.1.3.14); d)增加了客运分类、班车客运定制服务、电子客票、电子客票凭证的术语和定义（见4.2.1、4.3.6、 4.6.3和4.6.4)； )更改了客源、班车客运、包车客运、旅游客运、客运班线、一类客运班线、二类客运班线、三类客 运班线、四类客运班线、加班的定义（见4.1.3、4.2.2、4.2.3、4.3.1、4.3.2、4.3.3、4.3.4和4.4.8， 2008年版的2.2.1.2、2.1.3.8、2.1.3...

ICS 33.180.10 M33 中华人民共和国国家标准 GB/T 7424.21-2021 部分代替GB/T7424.2-2008 光缆总规范 第21部分: 光缆基本试验方法 机械性能试验方法 Optical fibre cable generic specification-Part 21:Basic optical cabletestprocedures-Mechanical testmethods (IEC 60794-1-21:2020,Optical fibre cables-Part 1-21:Generic specification- Basic optical cable test procedures-Mechanical test methods,MOD) 2021-10-11发布 2022-02-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会
GB/T 7424.21-2021 目次 前言 1范围. 2规范性引用文件 3方法E1：拉伸性能 4方法E2：磨损 .... 5方法E3：压扁 6 6方法E4：冲击 7方法E6：反复弯曲 11 8方法E7：扭转. 12 9方法E8：曲挠 10方法E10：弯折 16 11方法E11：弯曲 17 12 方法E13：枪击 13 方法E17：弯曲刚性 23 14 方法E18：张力下弯曲和过滑轮试验 28 15 方法E19：风激振动 33 16 方法E20：成圈性能. 17 方法E21：接插软线光缆护套拔出力 36 18 方法E22：接插软线光缆中被覆光纤的压缩位移 88 19 方法E23：微管管路验证试验 20 方法E24：微管中光缆安装试验 40 21 方法E25：撕裂绳功能试验 42 22 方法E26：舞动 43 23方法E27：室内模拟安装试验 24方法E28：光缆和光纤的机械可靠性试验 48 25方法E29：跨接时的光单元抽移试验 49 26 方法E30：光缆间的摩擦系数（圆鼓法） 27方法E31：微管净空间试验（考虑中） 28方法E32：交变张力下的蠕变（适用于ADSS光缆） 53 29方法E33：光缆多次盘绕和展开性能 58 30方法E34：光缆间的动摩擦系数（平板法） 附录A（资料性附录）本部分与IEC60794-1-21：2020相比的结构变化情况
GB/T7424.21-2021 附录B（资料性附录）本部分与IEC60794-1-21：2020的技术性差异及其原因 63 附录C（资料性附录）光纤和光缆拉伸应变与负载的典型试验曲线及解析. 66 参考文献. 67
GB/T 7424.21-2021 前言 GB/T7424分为以下9个部分： 一光缆总规范第1部分：总则； 光缆总规范第20部分：光缆基本试验方法总则和定义； -一光缆总规范第21部分：光缆基本试验方法机械性能试验方法； 一光缆总规范第22部分：光缆基本试验方法环境性能试验方法； 一光缆总规范第23部分：光缆基本试验方法光缆元构件试验方法； 一光缆总规范第24部分：光缆基本试验方法电气试验方法； 一光缆第3部分：分规范室外光缆； 一光缆第4部分：分规范光纤复合架空地线； -一光缆第5部分：分规范用于气吹安装的微型光缆和光纤单元。

本部分为GB/T7424的第21部分。

本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。

试验方法》。

本部分代替GB/T7424.2-2008中的第5章～第20章。

本部分与GB/T7424.2-2008 的第5章～第20章相比，主要技术变化如下： -E1中修改了转向滑轮及卡盘直径要求[见3.3b)和3.3d)，2008年版的5.3a)1)]； 一E1中增加了“监测光纤的分布宜具有代表性，如均匀分布于不同的松套管及骨架槽，或不同的 光纤带，或光纤带的中间及边沿”的规定[见3.4.1g），2008年版的5.4]； 一E1中修改了拉伸速度为"在光缆为一个来回的情况下（如2×25m），拉伸机的拉伸速率宜为 5mm/min～10mm/min，对于拉伸弹性模量较小的光缆，也可以是其他较大的拉伸速率”见 3.4.1d)，2008年版的5.4]； 的5.4)； -E1中删除了图4"光纤和光缆的伸长与负载函数关系实例"（见2008年版的图4）； E2A中修改了磨损移动长度，由（10土1)mm，改为（40±1)mm（见4.3.1，2008年版的6.1.3）； E2中增加了“E2B不适用于挤塑而形成的色条等护套标志”的规定（见4.1）； E2A中增加了钢针直径为1.0mm的规定（见4.3.1，4.4.1.1,2008年版的6.1.3，6.2.3.1）； -E2中增加了E2A和E2B方法1中负载为4N的规定（见4.3.2）； -E2中增加了E2B方法2中负载...

ICS31.200 L55 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T7092-2021 代替GB/T7092一1993 半导体集成电路外形尺寸 Outline dimensions of semiconductor integrated circuits 2021-03-09发布 2021-10-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布 GB/T7092—2021 目 次 前言 Ⅲ 1范围 1 2规范性引用文件 1 3封装外形 1 3.1金属封装 .1 3.2陶瓷封装 3.3塑料封装 2 4尺寸和公差 3 5封装外形分类和编码 4 6产品外形图及尺寸参数4 6.1通则 4 6.2金属圆柱封装 4 6.3金属菱形封装(F-1、F-2) 5 6.4金属法兰封装(TO-254、TO-257) 7 6.5金属焊盘封装(SMD-0.5、SMD-1) 8 6.6陶瓷双列直插封装(CDIP) 10 6.7陶瓷玻璃熔封双列直插封装(GD1P)13 6.8陶瓷无引线片式载体封装(CLCC) 15 6.9陶瓷扁平封装(CFP) 22 6.10陶瓷玻璃熔封扁平封装(GFP)24 6.11陶瓷双列无引线扁平封装(CDFN) 26 6.12陶瓷小外形封装(CSOP)29 6.13陶瓷玻璃熔封小外形封装(GSOP) 34 6.14陶瓷四边扁平封装系列 35 6.15陶瓷针栅阵列封装(CPGA)49 6.16陶瓷针栅阵列封装（交错型）(CIPGA) 52 6.17陶瓷焊盘阵列封装(CLGA) 54 6.18陶瓷焊球阵列封装(CBGA) 72 6.19陶瓷焊柱阵列封装(CCGA)91 6.20塑料圆柱封装(TO-92) 105 6.21塑料法兰封装系列 106 6.22塑料单列直插封装系列 120 6.23塑料双列直插封装系列 122 I GB/T7092—2021 6.24塑料双列无引线扁平封装系列(PVDFN、PWDFN、PUDFN、PXDFN)130 6.25塑料小外形封装系列（第一类） .140 6.26塑料小外形封装系列（第二类）146 6.27塑料四边扁平封装系列 176 6.28塑料四边无引线扁平封装系列(PQFN、PLQFN、PTQ...

ICS 31.060.40 L 11 中华人民共和国国家标准 GB/T6346.24-2021/IEC60384-24:2015 电子设备用固定电容器 第24部分：分规范 表面安装导电聚合物固体电解质 钽固定电容器 Fixed capacitorsforuseinelectronicequipment Part 24:Sectional specification-Fixed tantalum electrolytic surface mount capacitors with conductive polymer solidelectrolyte (IEC 60384-24:2015,IDT) 2021-10-11发布 2022-05-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会
GB/T 6346.24-2021/IEC 60384-24:2015 目次 前言 1总则.. 1.1范围 1.2目的. 1.3规范性引用文件 1.4详细规范中应规定的内容 1.5术语和定义 1.6标志.. 2 2优先额定值和特性 2.1优先特性 2.2优先额定值 3质量评定程序. 3.1初始制造阶段 3.2结构类似元件 3.3放行批合格证明记录 3.4鉴定批准程序 3.5质量一致性检验 10 4试验和测量程序 12 4.1预先干燥.. 12 4.2测量条件. 12 4.3安装... 12 4.4外观和尺寸检查. 12 4.5电气试验. 13 4.6 耐焊接热. 14 4.7 可焊性. 14 4.8剪切力试验（附着力) 14 4.9衬底弯曲试验 15 4.10温度快速变化 15 4.11 气候顺序 15 4.12 稳态湿热 16 4.13高低温特性 17 4.14 17 4.15 耐久性 17 4.16 元件耐溶剂(要求时) 18 4.17 标志耐溶剂(要求时) 18 4.18高浪涌电流（要求时） 18 4.19高温储存.. 18 参考文献 19
GB/T6346.24-2021/IEC60384-24:2015 前言 《电子设备用固定电容器》已经或计划发布的国家标准如下： 第1部分：总规范（GB/T2693-2001/IEC60384-1：1999)； 一第2部分：分规范金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器（GB/T7332-2011/ IEC 60384-2:2005); 一第2-1部分：空白详细规范金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器评定水 平E和 EZ(GB/T 7333-2012/IEC 60384-2-1：2005)； 第3部分：分规范表面安装MnO)固体电解质钮固定电容器（GB/T6346.3一2015/ IEC 60384-3:2006); 一第3-1部分：空白详细规范表面安装Mn()固体电解质钮固定电容器评定水平EZ (GB/T 6346.301-2015/1EC 60384-3-1:2006); -第4部分：分规范固体和非固体电解质铝电容器（GB/T5993-2003/1EC60384-4：1998)； -第4-1部分：空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E（GB/T5994-2003/ IEC 60384-4-1;2000); 一第6部分：分规范金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器（可供认证用）（GB/T14004一 1992/IEC 60384-6:1987); 第6-1部分：空白详细规范金属化聚丙烯薄膜介质直流固定电容器评定水平E(可供认证 用)（IEC 60384-6-1：2005)； 第7部分：分规范金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器（GB/T10185-2012)； 一第7-1部分：空白详细规范金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (GB/T 10186-2012)； -第8部分：分规范1类瓷介固定电容器（GB/T5966-2011/IEC60384-8：2005）； 一第8-1部分：空白详细规范1类瓷介固定电容器评定水平EZ（GB/T5967一2011/ IEC 60384-8-1:2005)； 第9部分：分规范2类瓷介固定电容器（GB/T5968-2011/IEC60384-9：2005)； 一第9-1部分：空白详细规范2类瓷介固定电容器评定水平EZ（GB/T5969-2012/ IEC 60384-9-1:2005); 一第11部分：分规范金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 (GB/T 6346.11-2015/1EC 60384-11:2008); 第11-1部分：空白详细规范金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平EZ(GB/T6346.1101-2015/1EC60384-11-1：2008)； 一第13部分：分规范金属箔...

ICS33.100 L06 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T6113.203—2020/CISPR16-2-3:2016 代替GB/T6113.203-2016 无线电骚扰和抗扰度测量设备和 测量方法规范 第2-3部分：无线电骚扰和抗扰度 测量方法辐射骚扰测量 Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods-Part 2-3:Methods of measurement of disturbances and immunity- Radiated disturbance measurements (CISPR16-2-3:2016 IDT) 2020-12-14发布 2021-07-01实施 国家市场监督管理总局 发布 () 国家标准化管理委员会 GB/T6113.203-2020/CISPR16-2-3:2016 目 次 前言 亚 1范围 1 2规范性引用文件1 3术语、定义和缩略语 3 3.1术语和定义3 3.2缩略语 6 4骚扰的类型 7 4.1概述 7 4.2骚扰类型7 4.3检波器的功能 .7 5测量设备的连接7 6测量的一般要求和条件7 6.1概述 7 6.2非EUT产生的骚扰8 6.3连续骚扰的测量 8 6.4EUT的布置和测量条件8 6.5测量结果的说明 11 6.6连续骚扰的测量时间和扫频速率 12 7辐射骚扰测量方法 19 7.1概述 19 7.2环天线系统(LAS)测量(9kHz~30MHz) 20 7.3开阔试验场或半电波暗室测量(30MHz~1GHz)22 7.4全电波暗室的测量(30MHz~1GHz) 27 7.5在半电波暗室中的同一试验布置时的辐射发射测量方法(30MHz~1GHz)和辐射抗扰度 测量方法(80MHz~1GHz) .31 7.6全电波暗室和铺有吸波材料的OATS/SAC测量(1GHz~18GHz)36 7.7现场测量(9kHz~18GHz) 43 7.8替换法测量(30MHz~18GHz) 48 7.9混响室测量(80MHz~18GHz)50 7.10TEM室测量(30...

ICS33.100 CCS L06 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T6113.104-2021/CISPR16-1-4:2019 代替GB/T6113.104一2016 无线电骚扰和抗扰度测量设备和 测量方法规范 第1-4部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备 辐射骚扰测量用天线和试验场地 Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods- Part 1-4:Radio disturbance and immunity measuring apparatus- Antennas and test sites for radiated disturbance measurements (CISPR16-1-4:2019 IDT) 2021-12-31发布 2022-07-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会 GB/T6113.104-2021/CISPR16-1-4:2019 目 次 前言 Ⅲ 引言 V 1范围 1 2规范性引用文件 1 3术语和定义、缩略语 2 3.1术语和定义 2 3.2缩略语 5 4无线电辐射骚扰测量用天线 6 4.1概述 6 4.2辐射骚扰测量的物理参数（被测量） .6 4.3频率范围9kHz~150kHz的天线 6 4.4频率范围150kHz~30MHz的天线 7 4.5频率范围30MHz~1000MHz的天线 .7 4.6频率范围1GHz~18GHz的天线 11 4.7特殊的天线配置一一大环天线系统 13 5用于无线电骚扰场强测量的试验场地(9kHz~30MHz) 14 6用于无线电骚扰场强测量的试验场地(30MHz~1000MHz)14 6.1概述 .14 6.2开阔试验场地 14 6.3其他类型的试验场地的适用性 16 6.4试验场地确认 17 6.5OATS和SAC的NSA法的基本参数 18 6.6用于OATS和SAC场地确认的参考场地法 21 6.7使用NSA方法确认OATS 25 6.8具有气候保护罩的OATS或SAC的确认 26 6.9超出场地可接受限值的一些可能的原因 29 6.10FAR的场地确认 29 6.11试验桌和天线塔影响的评估 36 7用于无线电骚扰场强测量的试验场地(1GHz~18GHz) 38 7.1概述 38 7.2参考试验场地...

ICS33.100 CCS L06 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T6113.103-2021/CISPR16-1-3:2016 代替GB/T6113.103一2008 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量 方法规范第1-3部分：无线电骚扰和 抗扰度测量设备辅助设备骚扰功率 Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods-Part 1-3:Radio disturbance and immunity measuring apparatus-Ancillary equipment-Disturbances power (CISPR16-1-3:2016 IDT) 2021-05-21发布 2021-12-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会 GB/T6113.103-2021/CISPR16-1-3:2016 目 次 前言 引言 Ⅲ 1范围 1 2规范性引用文件 1 3术语和定义、缩略语1 3.1术语和定义 3.2缩略语 1 4吸收钳设备 2 4.1概述 2 4.2吸收钳装置 2 4.3吸收钳的校准方法及其相互关系 .4 4.4辅助吸收装置 5 4.5吸收钳试验场地(ACTS)5 4.6吸收钳系统的质量保证程序 6 附录A(资料性)吸收钳的结构（见4.2） 10 附录B(规范性)吸收钳和辅助吸收装置的校准和确认方法（第4章）12 附录C(规范性)吸收钳试验场地的确认（第4章）19 参考文献 21 GB/T6113.103-2021/CISPR16-1-3:2016 前 言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规 定起草. GB/T(Z)6113《无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范》为电磁兼容基础标准. 本文件是GB/T(Z)6113的第1H3部分.GB/T(Z)6113已经发布了以下部分： 第1部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备 —第1H1部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备测量设备； ——第12部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备传导骚扰测量的耦合装置； —第13部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备辅助设备骚扰功率； —第14部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备辐射骚扰测量用天线和试验场地； —第1H5部分：无线电骚扰和抗扰...

CCS L 71 ICS 35.240.15
中华人民共和国国家标准 GB/T 5271.37-2021 代替GB/T26238-2010
信息技术词汇 第37部分：生物特征识别
Information technology-Vocabulary- Part37:Biometrics
(ISO/IEC2382-37:2017,MOD)
2021-10-11发布2022-05-01实施 国家市场监督管理总局发布 国家标准化管理委员会
GB/T 5271.37-2021
目次
前言 引言 1范围 2规范性引用文件 3术语和定义 3.1一般概念术语 3.2生物特征识别系统术语 3.3生物特征识别系统中的数据术语 3.4设备术语 3.5功能术语8 3.6交互术语11 3.7人员术语.15 3.8应用术语17 3.9性能术语 参考文献.22 索引.23
GB/T 5271.37-2021
前言
本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。

本文件是GB/T5271《信息技术词汇》的第37部。

GB/T5271已经发布了以下部分： 第1部分：基本术语； 一第2部分：算术和逻辑运算； 第3部分：设备技术； 一第4部分：数据的组织； 一第5部分：数据表示； -第6部分：数据的准备与处理； 第7部分：计算机编程； 第8部分：安全； 第9部分：数据通信； 第10部分：操作技术和设施； 第11部分：处理器； 第12部分：外围设备； 第13部分：计算机图形； 一第14部分：可靠性、可维护性与可用性； -第15部分：编程语言； 一第16部分：信息论； 第17部分：数据库； 一第18部分：分布式数据处理； -第19部分：模拟计算； 第20部分：系统开发； 第22部分：计算器； 第23部分：文本处理； 第24部分：计算机集成制造； 第25部分：局域网； 第26部分：开放系统互连； 第27部分：办公自动化； 第28部分：人工智能基本概念与专家系统； -第29部分：人工智能语音识别与合成； 一第31部分：人工智能机器学习； 第32部分：电子邮件； 第34部分：人工智能神经网络； 第36部分：学习、教育和培训； 一第37部分：生物特征识别。

本文件代替GB/T26238-2010《信息技术生物特征识别术语》，与GB/T26238-2010相比，除 结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下：
GB/T 5271.37-2021
类别； b）增加了“模式”（3.2.5）、“多模态”（3.2.6）、“系统参与率”（3.2.7）、“匿名生物特征数据记录” ） 据库”（3.3.17）、“生物特征参考数据记录”（3.3.18）、“生物特征表示”（3.3.20）、“生物特征验证 决策”（3.3.23）、“欺诈性生物特征注册数据记录”（3.3.29）、“配对的”（3.3.32）、“不配对的”
征获取过程”（3.5.1）、“可接受的生物特征采集尝试”（3.6.1）、“生物特征采集”（3.6.3）、生物特
(3.6.11）、符合性采集尝试”（3.6.12）、“配合呈现”（3.6.13）、“否定的生物特征声称”（3.6.14）、 “非符合性采集尝试”（3.6.15）、“不关心的呈现”（3.6.16）、“肯定的生物特征声称”（3.6.17）、“不 可接受的采集尝试”（3.6.18）、“不配合呈现”（3.6.19）、“无认知呈现”（3.6.22）、“采集主体培训” (3.6.23）、“采集主体熟悉度”（3.6.24）、“生物特征呈现攻击”（3.6.25）、“生物特征采集逃避攻 击”（3.6.26）、“生物特征干扰攻击”（3.6.27）、“生物特征隐匿攻击”（3.6.28）、“生物特征假冒攻
破坏者”（3.7.12）、“不关心的生物特征采集主体”（3.7.14）、“非破坏性生物特征采集主体”
主体”（3.7.24）、“非熟练采集主体”（3.7.25）、“采集失败”（3.9.5）、“比对试验”（3.9.12）、“质量得 分"(3.9.13)、“质量"（3.9.14)、“生物特征关联特性”（3.9.15）、“生物特征效用”（3.9.16）、“经验 证的生物特征声称”（3.9.17）、“接受”（3.9.18）、“真系统接受”（3.9.19）、“真生物特征声称” （3.9.20）、“真系统拒绝”（3.9.21）和“假生物特征声称”（3.9.22）70个术语；
身份”“获取”“隐瞒身份者”和"试验”8个术语； d）修改了“生物特征特性"(3.1.2）、“生物特征采集子系统"(3.2.1)、"生物特征辨识系统"（3.2.2)、
过程”（3.5.2）、“生物特征注册”（3.5.3）、“中间生物特征样本处理”（3.5.9）、“禁入”（3....

L23 ICS 31.220.10
中华人民共和国国家标准
GB/T5095.2507-2021/IEC60512-25-7:2004
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g: 阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR）
Electromechanical ponents for electronic equipment Basic testing procedures and measuring methods Part 25-7:Test 25g: Impedance,reflection coefficient, and voltage standing wave ratio (VsWR) [IEC 60512-25-7:2004,Connectors for electronic equipment- Tests and measurements-Part 25-7: Test 25 g:Impedance, reflection coefficient, and voltage standing wave ratio(VSWR)，IDT]
2021-03-09发布2021-10-01实施 国家市场监督管理总局发布 国家标准化管理委员会
GB/T 5095.2507-2021/IEC 60512-25-7:2004
目次
前言 1范围和目的 2术语和定义 3试验设施 3.1设备 3.2装置 4试验样品 4.1说明 5试验程序 5.1时域 5.2频域 6相关标准应规定的细则 7试验记录文件 附录A（规范性附录）测量系统上升时间 附录B（资料性附录）样品近端和远端的确定11 附录C（资料性附录）校准标准和试验板标准线路12 附录D（资料性附录）TDR阻抗曲线图说明15 附录E（资料性附录）电气终端17 附录F（资料性附录）实用指南一一可变上升时间 附录G（资料性附录）电子测量用印制电路板的设计依据20 附录H（资料性附录）试验信号发射构件24
GB/T 5095.2507-2021/IEC 60512-25-7:2004
前言
GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。

GB/T5095的第25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下： --第25-1部分：试验25a：串扰比； --第25-2部分：试验25b：衰减（插人损耗）； 一第25-3部分：试验25c：上升时间衰减； --第25-4部分：试验25d：传输时延； -第25-5部分：试验25e：回波损耗； --第25-6部分：试验25f：眼图和抖动； -一第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR)； -第25-9部分：信号完整性试验试验25i：外来串扰。

本部分为GB/T5095的第25-7部分。

本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。

本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-7：2004《电子设备用连接器试验和测量第25-7部 分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR）》。

本部分做了下列编辑性修改： 标准名称由《电子设备用连接器试验和测量第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压 驻波比（VSWR）》修改为《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-7部分：试 验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR）》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。

本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。

本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。

本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口。

本部分起草单位：四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。

本部分主要起草人：庞斌、朱茗、肖森、刘俊、汪其龙。

GB/T 5095.2507-2021/IEC60512-25-7:2004
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g： 阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR）
1范围和目的
本部分描述了在时域和频域内测量阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR)的试验方法。

注：这些测试方法是为专业试验人员编写的，这些试验人员具备电子领域的专业知识并经过使用测试设备的培训。

由于测量值受装置和设备的强烈影响，该方法未能叙述可能的复合作用。

主要设备制造厂提供的应用说 明书，对如何最恰当的使用其设备作了更深人的专业说明。

至关重要的是相关标准中宜包括让试验人员了解 如何安排和进行所要求测量的说明和简图。

2术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。

2.1 测量系统上升时间measurement system ...

L23 ICS 31.220.10 中华人民共和国国家标准 GB/T5095.2505-2021/IEC60512-25-5:2004 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗 Electromechanical ponents for electronic equipment- Basic testing procedures and measuring methods-- Part 25-5:Test 25e:Return loss (IEC 60512-25-5:2004,Connectors for electronic equipment-- Tests and measurements-Part 25-5: Test 25e:Return loss, IDT) 2021-03-09发布 2021-10-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会
GB/T 5095.2505-2021/IEC 60512-25-5:2004 目 前言 1范围 2术语和定义 3试验设施 3.1设备 3.2装置 4试验样品 4.1说明 5试验程序 5.1总则 5.2装置回波损耗 5.3样品回波损耗测量 5.4时域法 6相关标准应规定的细则 7试验记录文件 附录A（规范性附录）装置和设备示意图 附录B（资料性附录）实用指南
GB/T 5095.2505-2021/IEC 60512-25-5:2004 前言 GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。

GB/T5095的第25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下： --第25-1部分：试验25a：串扰比； --第25-2部分：试验25b：衰减（插人损耗）； 一第25-3部分：试验25c：上升时间衰减； --第25-4部分：试验25d：传输时延； -第25-5部分：试验25e：回波损耗； --第25-6部分：试验25f：眼图和抖动； -一第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR)； -第25-9部分：信号完整性试验试验25i：外来串扰。

本部分为GB/T5095的第25-5部分。

本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。

本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-5：2004《电子设备用连接器试验和测量第25-5部 分：试验25e：回波损耗》。

本部分做了下列编辑性修改： 标准名称由《电子设备用连接器试验和测量第25-5部分：试验25e：回波损耗》修改为《电 子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-5部分：试验25e：回波损耗》； -一图A.1b）中原文“标准装置（有样品）、样品装置（无样品）”为明显笔误，修改为“标准装置（无 样品）、样品装置（有样品)”。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。

本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。

本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。

本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口。

本部分起草单位：四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。

本部分主要起草人：庞斌、朱茗、肖森、刘俊、汪其龙。

GB/T 5095.2505-2021/IEC 60512-25-5:2004 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗 1范围 GB/T5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。

本部分描述了用于测量作为频率函数的回波损耗的频域法和时域法。

2术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。

2.1 回波损耗returnloss 样品测量的反射信号与输入信号之比。

注：可用分贝(dB)表示。

2.2 样品环境阻抗specimenenvironmentimpedance 由装置在样品信号导线上引起的阻抗。

该阻抗是由传输线路、终端电阻、附装的接收器或信号源， 以及装置的寄生效应产生的。

3试验设施 3.1设备 3.1.1频域 采用具有适用于受试器件（DUT)动态范围的网络分析仪。

差分测量时，可采用具有多端口试验位 置或平衡-不平衡转换器的网络分析仪。

3.1.2时域 优先采用时域反射计（TDR)、触发脉冲发生器和合适的快速傅里叶变换（FFT)软件。

3.2装置 3.2.1概述 样品环境阻抗应与试验设备的阻抗匹配。

除非详细规范中另有规定，通常，对于单端测量，该阻抗 为50Ω，差分测量为100Ω。

装置和设备的示意图见附录A。

3.2.2样品导线配置 每次测量时，应按详细规范中的规定安装好激励线路。

在规定的样品环境阻抗...

L23 ICS 31.220.10
中华人民共和国国家标准
GB/T5095.2504-2021/IEC60512-25-4:2001
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延
Electromechanical ponents for electronic equipment- Basic testing procedures and measuring methods-- Part 25-4:Test 25d:Propagation delay (IEC 60512-25-4:2001,Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 25-4:Test 25d:Propagation delay,IDT)
2021-03-09发布2021-10-01实施 国家市场监督管理总局发布 国家标准化管理委员会
GB/T 5095.2504-2021/IEC 60512-25-4:2001
目次
前言 1总则 1.1范围和目的 1.2术语和定义 2试验设施 2.1设备 2.2装置 3试验样品 3.1说明 4试验程序 4.1探头法 4.2插入法 4.3标准装置法 5相关标准应规定的细则 6试验记录文件 附录A（规范性附录）装置和设备示意图 附录B（资料性附录）实用指南
GB/T 5095.2504-2021/IEC 60512-25-4:2001
前言
GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。

GB/T5095的第25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下： --第25-1部分：试验25a：串扰比； -一第25-2部分：试验25b：衰减（插人损耗）； 一第25-3部分：试验25c：上升时间衰减； --第25-4部分：试验25d：传输时延； --第25-5部分：试验25e：回波损耗； --第25-6部分：试验25f：眼图和抖动； -一第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR)； -第25-9部分：信号完整性试验试验25i：外来串扰。

本部分为GB/T5095的第25-4部分。

本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。

本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-4：2001《电子设备用连接器试验和测量第25-4部 分：试验25d：传输时延》。

本部分做了下列编辑性修改：
子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-4部分：试验25d：传输时延》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。

本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。

本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。

本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口。

本部分起草单位：四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。

本部分主要起草人：庞斌、朱茗、肖淼、刘俊、汪其龙。

GB/T 5095.2504-2021/IEC 60512-25-4:2001
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延
1总则
1.1范围和目的 GB/T5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。

本部分描述了测量数字信号从一个规定地点传送至第二个规定地点所需时间的方法。

1.2术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。

1.2.1 测量系统上升时间measurement systemrisetime 安装就位无样品，并具有滤波（或归一化)作用的装置测量的上升时间。

通常，测量的是10%～ 90%电平的上升时间（见图1)。

1.2.2 样品环境阻抗specimenenvironmentimpedance 由装置在样品信号导线上引起的阻抗。

该阻抗是由传输线路、终端电阻、附装的接收器或信号源以 及装置的寄生效应产生的。

1.2.3 传输时延propagation delay 信号在互连系统的两个规定地点之间传送所需的时间(见图2)。

2试验设施
2.1设备 2.1.1脉冲发生器和示波器、时域反射计（TDR)或具有测量系统上升时间小于或等于测量传输时延的 其他合适设备。

2.1.2探头 若采用探头时，探头应具有合适的上升时间性能和电路负载特性(电阻和电容)。

2.2装置 除非参考文件中另有规定，样品环境阻抗应与试验设备的阻抗相匹配。

通常，对于单端测量，该阻 抗为50Ω，差分测量为100Ω。

装置和设备的示意图见附录A。

2.2.1方法A，单端 装置应能一次激励一条信号线路。

激励线路应按图A.2中的一种方法与样品环...

L23 ICS 31.220.10
中华人民共和国国家标准
GB/T5095.2503-2021/IEC60512-25-3:2001
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减
Electromechanical ponentsfor electronic equipment- Basic testing procedures and measuring methods- Part 25-3:Test 25c:Rise time degradation (IEC 60512-25-3:2001,Connectors for electronic equipment- Tests and measurements-Part 25-3:Test 25c:Rise time degradation,IDT)
2021-03-09发布2021-10-01实施 国家市场监督管理总局发布 国家标准化管理委员会
GB/T 5095.2503-2021/IEC 60512-25-3:2001
目次
前言 1总则 1.1范围和目的 1.2术语和定义 2试验设施 2.1设备 2.2装置 3试验样品 3.1说明 4试验程序 4.1插入法 4.2标准装置法 4.3上升时间衰减计算 5相关标准应规定的细则 6试验记录文件 附录A（规范性附录）装置和设备示意图 附录B（资料性附录）实用指南
GB/T 5095.2503-2021/IEC 60512-25-3:2001
前言
GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。

GB/T5095的第25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下： --第25-1部分：试验25a：串扰比； -一第25-2部分：试验25b：衰减（插人损耗）； 一第25-3部分：试验25c：上升时间衰减； --第25-4部分：试验25d：传输时延； -第25-5部分：试验25e：回波损耗； --第25-6部分：试验25f：眼图和抖动； -一第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR)； -第25-9部分：信号完整性试验试验25i：外来串扰。

本部分为GB/T5095的第25-3部分。

本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。

本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-3：2001《电子设备用连接器试验和测量第25-3部 分：试验25c：上升时间衰减》。

本部分做了下列编辑性修改：
《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-3部分：试验25c：上升时间衰减》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。

本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。

本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。

本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口。

本部分起草单位：四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。

本部分主要起草人：庞斌、朱茗、肖淼、刘俊、汪其龙。

GB/T 5095.2503-2021/IEC60512-25-3:2001
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减
1总则
1.1范围和目的 GB/T5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。

本部分描述了测量样品对通过其中信号的上升时间所产生影响的方法。

1.2术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。

1.2.1 上升时间衰减rise time degradation 样品插入传输通道时，达到理论上理想的(零上升时间)电压阶跃的上升时间增量（见图1)。

采用 的高斯信号从10%～90%的上升时间衰减的计算式见式(1)： Td=√(T,)²(T） 式中： T.d--上升时间衰减； T，--测量的上升时间； T.m--测量系统上升时间。

1.2.2 测量系统上升时间measurement systemrisetime 安装就位无样品，并具有滤波（或归一化）作用的装置测量的上升时间。

通常，测量的是从10%～90% 电平的上升时间(见图1)。

1.2.3 样品环境阻抗specimen environmentimpedance 由装置在样品信号导线上引起的阻抗。

该阻抗是由传输线路、终端电阻、附装的接收器和信号源以 及装置的寄生效应产生的。

1.2.4 上升时间rise time 发生电压阶跃所需的时间，通常测量的是从10%～90%电平上升时间的初始值和最终值。

2试验设施 2.1设备 脉冲发生器和示波器、时域反射计（TDR)或具有测量系统上升时间小于或等于测量的上升时间 70%的其他...

ICS31.220.10 L23 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T5095.2502-2021/IEC60512-25-2:2002 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b:衰减（插入损耗） Electromechanical ponents for electronic equipment- Basic testing procedures and measuring methods- Part 25-2:Test 25b:Attenuation (insertion loss) CIEC 60512-25-2:2002 Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 25-2:Test 25b:Attenuation(insertion loss) IDT] 2021-03-09发布 2021-10-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会 GB/T5095.2502-2021/IEC60512-25-2:2002 目 次 前言 L 1总则 1 1.1范围和目的 1 1.2术语和定义 1 2试验设施 2.1设备 1 2.2装置 3试验样品 2 3.1说明 2 4试验程序 2 4.1装置衰减 3 4.2样品衰减测量 4.3阻抗分析仪（开路/短路法） 4 4.4追加测量 4 4.5时域法 4 5相关标准应规定的细则 6试验记录文件 5 附录A(规范性附录)装置和设备的示意图 附录B(资料性附录)实用指南 10 GB/T5095.2502-2021/IEC60512-25-2:2002 前言 GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分. GB/T5095的第25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下： —第25-1部分：试验25a:串扰比： —第25-2部分：试验25b:衰减（插人损耗）； ——第25-3部分：试验25c:上升时间衰减； —第25-4部分：试验25d:传输时延； ——第25-5部分：试验25e:回波损耗； —第25-6部分：试验25f:眼图和抖动； 一——第25-7部分：试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR); ——第25-9部分：信号完整性试验试验25i:外来串扰. 本部分为GB/T5095的第25-2部分. 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 本部分使用翻译法等同采用1EC60512-25-2:2002《电子设备用连接器试...

ICS 31.220.10 L23 中华人民共和国国家标准 GB/T 5095.2501-2021/IEC 60512-25-1:2001 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比 Electromechanical ponentsfor electronic equipment- Basic testingprocedures andmeasuring methods- Part 25-1:Test 25a:Crosstalk ratio (IEC 60512-25-1:2001，Connectors for electronic equipment Tests and measurements-Part 25-1:Test 25a:Crosstalk ratio,IDT) 2021-03-09发布 2021-10-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布
GB/T 5095.2501-2021/IEC 60512-25-1:2001 目 次 前言. 1总则 1.1范围和目的 1.2术语和定义 2试验设施 2 2.1设备 2.2装置 3试验样品 3.1说明 4试验程序. 4.1方法A（时域法) 4.2方法B（频域法） 5相关标准应规定的细则 试验 5.2 仅时域法 6 5.3 仅频域法 5.4按相关标准补充推荐的装置规范 6 6试验记录文件 附录A（规范性附录）装置和设备的示意图 8 附录B（资料性附录）实用指南
GB/T 5095.2501-2021/IEC 60512-25-1:2001 前言 GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。

GB/T5095的第25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下： 第25-1部分：试验25a：串扰比； 一第25-2部分：试验25b：衰减（插人损耗）； --第25-3部分：试验25c：上升时间衰减； 第25-4部分：试验25d：传输时延； 第25-5部分：试验25e：回波损耗； -第25-6部分：试验25f：眼图和抖动； -第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR)； 第25-9部分：信号完整性试验试验25i：外来串扰。

本部分为GB/T5095的第25-1部分。

本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。

本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-1：2001《电子设备用连接器试验和测量第25-1部 分：试验25a：串扰比》。

本部分做了下列编辑性修改： 标准名称由《电子设备用连接器试验和测量第25-1部分：试验25a：串扰比》修改为《电子 设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-1部分：试验25a：串扰比》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。

本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。

本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。

本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会（SAC/TC166）归口。

本部分起草单位：四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。

本部分主要起草人：庞斌、朱茗、肖淼、刘俊、汪其龙。

GB/T 5095.2501-2021/IEC 60512-25-1:2001 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比 1总则 1.1范围和目的 GB/T5095的本部分适用于互连组件，如电连接器、插座和电缆组件。

本部分规定了测量互连组件的激励线路与静噪线路之间电磁耦合量的试验规程。

描述了用于单端 和差分传输的时域法（方法A)和频域法（方法B)两种试验方法及其插入和标准装置法。

1.2术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。

1.2. 1 激励信号drive signal 一种阶跃波形(时域内)或正弦波形(频域内)。

1.2.2 串扰比crosstalkratio 耦合（感应）进人静噪信号线或线对的信号与激励线或线对中信号的量值之比。

两种信号具有相同 的电压或电流单位，并且比值可用百分比或分贝（dB)表示。

1.2.3 近端串扰比near end crosstalk ratio;NEXT 在接近激励线路发射（信号源）端的静噪线路上计算出的串扰比。

这是近端静噪线路信号幅度与 近端激励线路信号幅度的比值。

1.2.4 远端串扰比far endcrosstalkratio；FEXT 在接近激励线路接收（终点）端的静噪线路上计算出的串扰比。

这是远端静噪线路信号幅度与近端 激励线路信号幅度的比值。

1.2.5 测量系统上升时间measurement systemrisetime 安装就位无...

L23 ICS 31.220.10 中华人民共和国国家标准 GB/T5095.2307-2021/IEC60512-23-7:2005 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分：屏蔽和滤波试验 试验23g：连接器的有效转移阻抗 Electromechanical ponents for electronic equipment- Basic testingprocedures and measuring methods Part 23-7:Screening and filtering tests Test23g:Effective transferimpedance of connectors (IEC 60512-23-7:2005,Connectors for electronic equipment Tests and measurements-Part 23-7:Screening and filtering tests- Test 23g:Effective transfer impedance of connectors,IDT) 2021-03-09发布 2021-10-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会
GB/T 5095.2307-2021/IEC 60512-23-7:2005 目 次 前言 1范围 2规范性引用文件 3术语和定义 4准备 4.1 试验装置 4.2 设备 4.3 样品和校准器的准备 5方法 5.1条件 5.2阻抗一致性 5.3连接电缆和受试元件的工作衰减 5.4程序 6有效转移阻抗的计算 7相关标准应规定的细则 8试验记录文件 1+ s 附录A（资料性附录）屏蔽衰减计算 10 附录B（资料性附录）试验装置校验
GB/T 5095.2307-2021/IEC 60512-23-7:2005 前言 GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分1nn GB/T5095的第23部分为屏蔽和滤波试验，已经发布或计划发布的部分如下： -一第23-3部分：屏蔽和滤波试验试验23c：连接器和附件的屏蔽效果线注入法； 一-第23-4部分：屏蔽和滤波试验试验23d：时域内传输线的反射； -一第23-7部分：屏蔽和滤波试验试验23g：连接器的有效转移阻抗1nn 本部分为GB/T5095的第23-7部分1nn 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草1nn 本部分使用翻译法等同采用IEC60512-23-7：2005《电子设备用连接器试验和测量第23-7部 分：屏蔽和滤波试验试验23g：连接器的有效转移阻抗》1nn 与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下： --GB/T4210-2015电工术语电子设备用机电元件（IEC60050-581：2008，IDT)； --GB/T5095.2303一2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第23-3部分：屏 蔽和滤波试验试验23c：连接器和附件的屏蔽效果线注人法（IEC60512-23-3：2018， IDT) ; --GB/T17737.1-2013同轴通信电缆第1部分：总规范总则、定义、要求（IEC61196-1： 2005,IDT)1nn 本部分做了下列编辑性修改： -一标准名称由《电子设备用连接器试验和测量第23-7部分：屏蔽和滤波试验试验23g：连 接器的有效转移阻抗》修改为《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第23-7部 分：屏蔽和滤波试验试验23g：连接器的有效转移阻抗》； -一英制单位换算为公制单位1nn 请注意本文件的某些内容可能涉及专利1nn本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任1nn 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出1nn 本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会（SAC/TC166）归口1nn 本部分起草单位：四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院1nn 本部分主要起草人：庞斌、朱茗、肖淼、段志洋、汪其龙1nn
GB/T 5095.2307-2021/IEC 60512-23-7:2005 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分：屏蔽和滤波试验 试验23g：连接器的有效转移阻抗 1范围 GB/T5095的本部分规定了最高频率在1GHz屏蔽的非圆形多芯电短路连接器，采用网络分析仪测 量有效（表面）转移阻抗Z（用Ω表示)的试验方法，用以评定屏蔽效果1nn这种方法是以GB/T17737.1一 2013规定的线注人法为基础，采用特定类型的注入线以适应各种形状的连接器1nn在下文中所述的方法 ...