SJ/T 11845.2-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分：光电耦合器件.pdf

ICS31.080.01 CCS L50 SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T11845.2—2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性 评价方法 第2部分：光电耦合器件 Reliability evaluation methods for electronic ponents and devices based on low frequency noise-Part 2:Photocouplers 2022-10-20发布 2023-01-01实施 4 SJ 中华人民共和国工业和信息化部发布 SJ/T11845.2-2022 目次 前言 I 1范围. 1 2规范性引用文件. .....1 3术语和定义. ..1 般要求n 5详细要求...... ..1 5.1噪声分级.... 1 5.2噪声测试的技术要求 ...1 5.3详细噪声分级.. 2 6方法应用.. 2 6.1设计及工艺稳定性评价 2 SJ/T11845.2-2022 前言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规 定起草. 本文件是《基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法》的第2部分. SJ/T11845《基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法》分为若千部分： 第1部分：通用要求： 第2部分：光电耦合器件： 第3部分：二极管： 第4部分：电阻器 TRY AND INFORM 请注意本文伴的 内容 可能涉及专利.本文件的发布机构 系扣积别专利的责任. 本文件由基于低噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组是出归口. 本文件草单位：中国运教技术究院、工业和信息 化电子第五研所芜湖赛宝信息产业 技术研究院有限公司西安电子科技大学、北京瑞普北光电子有限公司、中国电子科技集团公司第四十 四研究所、苏州半导体总 有限公司、深圳量为科技有限公司 本文件起草人： 加春雷、包军林、王四新、熊盛阳、伟、余永涛 星 王君、顾惠萍、 李兆成、孙立 ou CHNOLOGY STANDARDS ...