中华人民共和国国家标准
GB/T8758-2006代替GB/T8758-1988
Measuring thickness of epitaxial layers ofgallium arsenide byinfrared interference
中国国家标准化管理委员会 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布
中华人民共和国砷化综外延层厚度红外干涉测量方法 国家标准GB/T 8758-2006北京西城区复兴门外三里河北街16号 出版发行邮政编码：100045电话 ：(010) http: // spc net. cn2006年10月第一版书号：155066 ▪ 1-28139：（010）
前言
本标准是对GB/T8758-1988《砷化外延层厚度红外干涉测量方法》的修订.
本标准与GB/T8758-1988相比主要变动如下：
一原标准表述仪器要求的3.1.3条使用了波数表示法，为了和其他条款的表述一致，改为波长表示法.
一原标准规定，为测定仪器的波长精度和重复性，要测量聚苯乙烯膜的吸收带十次，但未规定是 按固定周期还是在每次测量前做这项工作，也没有规定如果在这十次测量结果中出现一次或几次不符合要求时应如何处理，不便于实际操作.修改后规定为每次打开仪器按仅器说明书的要求预热一定时间后，在正式测量前进行一次测量聚苯乙烯膜的吸收带的校准.
砷化外延层厚度红外干涉测量方法
1范围
本标准适用于砷化外延片外延层厚度的测量，测量厚度大于2μm.要求衬底材料的电阻率小于0.02Ωcm，外延层的电阻率大于0.1Ωcm.
2原理
衬底材料与外延层的光学常数差别较大，当红外光人射到外延片表面时，在反射光谱中产生干涉条纹.根据干涉条纹的极大值或极小值的波长位置、衬底材料和外延层的光学常数以及光束的入射角，可计算出外延层的厚度.
3仪器
3.2仪器的波长和波长重复性误差不大于0.05μm，在10μm处光谱分辨率为0.02μm或更好. 4 000 cm ~ 200 cm.3.3仪器应配有反射附件，人射角不大于30°，仅器应配有黑体材料制成的多种孔径的光.
3.1双光束红外分光光度计或傅立叶红外光谱仪，波长范围为2.5m～50μm，或波数范围为
4样品
4.2衬底和外延层的导电类型及衬底的电阻率应是已知的. 4.1用于测量的样品应具有良好的光学表面，不应有大面积的钝化层.
5测量过程
5.1仪器校准
5.1.1打开仪器，按说明书的要求进行预热.测量厚度为300μm～500μm的聚苯乙烯膜的吸收光 谱，核对3.303gm吸收带，其结果应满足3.2的要求.5.1.2安装反射附件后测量100%线，其峰谷值差应小于8%.
25 gm处仍能观察到极值的外延片，使用最慢的扫描速度记录大于25μm处的极小值的波长位置.逐 安装反射附件.选择衬底和外延层电阻率分别为0.008Ωcm和0.12Ωcm并且在波长大于步提高扫描速度，观察极小值波长位置的变化，允许使用的最快扫描速度与最慢扫描速度得到的相应极小值波长之差应小于士0.1μm.
5.3测量
要求.即为极值的波长位置.5.3.3如反射光谱线的峰值幅度与噪声幅度之比小于5，则不能用于计算外延层厚度.
5.3.1把待测样品放置于反射附件的窗口上，测量点对准窗口，记录反射光谱.扫描速度满足5.2的
5.3.2在低于极大值或高于极小值满刻度的约3%处作水平线，该线与反射光谱线两焦点的中点位置
6计算
6.1由公式（1）确定各个极大值和极小值的级数.若入为极大值，则P.计算值取整数，若入为极小
