中华人民共和国国家标准
GB/T32872-2016
空间科学照明用LED筛选规范
Screening specifications for illumination LEDs in space sciences
中国国家标准化管理委员会 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布
目 次
前言1范围3总则 2规范性引用文件4筛选项目和程序5筛选方法5.1外观检查5.2参数测量5.3 5.4 恒定加速度 粒子碰撞噪声检测5.5 密封性检查5 6 高温存储5.7 温度冲击5.8 5.9 低温启动 温度循环5 10 老炼5.11 参数终测6参数测量和合格判定6.2测试参数 6.1测量条件6.3测试方法6.4合格判定附录A（资料性附录） 空间科学照明用LED筛选统计表
前言
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草.本标准由全国空间科学及其应用标准化技术委员会（SAC/TC312）归口. 本标准起草单位：中国科学院上海技术物理研究所.本标准主要起草人：张涛、章美敏、刘石神、顾建忠、袁士东、王晨飞.
空间科学照明用LED筛选规范
1范围
和合格判定， 本标准规定了空间科学照明用LED（Light Emitting Diode）筛选项目和程序、筛选方法、参数测量
本标准适用于空间科学照明用额定功率1W和1W以上封装的单芯LED的筛选，其他功率级别的LED也可参照执行.
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的.凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件.凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括的修改单）适用于本文件.
GJB128A-1997半导体分立器件试验方法 GJB4027军用电子元器件破坏性物理分析方法
3.1被筛选器件应按产品规范或技术协议的要求进行参数初测，合格的器件可参加筛选.筛选按规定的项目和程序进行，完成每个项目之后，剔除不合格产品.见附录A，器件的参数测试数据可作为筛选报告的附件.3.3测试如有异常，应记录异常的发生时间和器件编号.3.4当筛选别除率超过20%时应判批次不合格.当出现功能失效时应按照GJB4027进行失效分析，如属于材料或工艺因素的非偶然性失效也应判批次性不合格.
4筛选项目和程序
筛选按表1规定的项目和程序进行，完成每个项目之后，别除不合格产品.
表1筛选项目和程序
序号 筛选项目 简选方法1 外观检查 见5.12 参数测量 见5.23 恒定加速度 见5.34 粒子碰撞噪声检测（PIND） 见5.45 密封性检查 见5.5
表1（续）
序号 筛选项目 筛选方法6 高温存储 见5.67 温度冲击 低温启动 见5.7 见5.88 9 温度循环 见5.910 老炼 见5.1011 外观终检 见5.112 参数终测 见 5.11
5筛选方法
5.1外观检查
常温下，用10倍放大镜检查器件的外观质量，不得存在下列缺陷：
b）透镜破碎、有裂纹，或有气泡、异物； a）管壳和管脚锈蚀，根部有明显硬伤；c）标识不清；d）变形、污损、划痕等外观缺陷.
5.2参数测量
按6.1、6.2和6.3进行参数测量，所测参数应满足产品规范或技术协议的要求.
5.3恒定加速度
5.3.1筛选条件
筛选条件如下：
b）实验方向：Y1向（加速力方向平行于器件主轴，主基座的正方向）； a）恒定加速度：196000m/s；e）持续时间：1min.
5.3.2筛选方法
将被筛选器件（不通电）安装于加速度试验架上，筛选方法按照GJB128A-1997方法2006的规定.试验结束后，按6.4.2进行合格判定.
5.4粒子硅擅噪声检测
5.4.1筛选条件
在40Hz~250Hz下，峰值加速度为196m/s²
5.4.2筛选方法
按GJB128A-19972052条件A进行，适用于空封器件，无空腔的器件可免做.
